如何測試相控陣列天線

PNA-X 向量網路分析儀
+ PNA-X 向量網路分析儀

使用網路分析儀和訊號產生器測試相控陣列天線

以高精度校準測試相控陣列天線需要球形天線樣式量測。單一測試台包括向量網路分析儀 (VNA)、向量訊號產生器 (VSG)、小型天線測試範圍 (CATR) 以及多種儀器軟體應用程式,可在簡化校正與測試設定的同時,進行廣泛的量測。VSG 以高載波頻率提供所需的寬頻調變信號,同時提供高速數位控制介面和相位陣列。可程式儀器標準指令 (SCPI) 解析器將波束成形電路整合到測試系統中。

結合 CATR 和硬體在迴路測試方法,VNA 透過應用向量誤差校正和先進的校正方法,提供必要的量測精準度。VNA 軟體應用可實現增益壓縮、增益過雜訊溫度 (G / T) 及低殘餘誤差向量幅度 (EVM) 量測。這些量測對於快速精確的主動電子掃描陣列 (AESA) 校正和波束成形性能驗證是必要的。

相控陣列天線校正和測試解決方案,包括 PNA-X 網路分析儀和 CATR

相控陣天線校正與測試解決方案

測試相控陣列天線需要高精度的校準和徹底的球形天線圖測量。Keysight VXG向量信號產生器提供高輸出功率與超低相位雜訊,而Keysight緊湊型天線測試範圍可隔離AESA與外部干擾源。CATR 包括一個定位器,用於測量作為遠場球面角度函數的輻射特性。Keysight PNA-X 矢量網路分析儀的功能,包括兩個內部訊號源、一個訊號合併器、雜訊接收器,以及一組彈性的開關和 RF 存取點,可在單一儀器中進行廣泛的線性和非線性量測。天線量測軟體提供天線樣式量測以及相控陣列天線控制與校正。PNA-X 可從 CATR 的雙線性饋源喇叭天線的兩個連接埠擷取向量天線樣式資料。該系統可快速測量相控陣列的波束成形圖,以比較校正前後的輻射性能。關鍵指標包括有效各向同性輻射功率、輻射圖樣與波束掃描角度、波束掃描範圍、損失、跨極化隔離、增益壓縮、G / T 和 EVM。

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