訊號分析儀
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使用雜訊指數分析儀了解雜訊源

量測並管理射頻 (RF) 電路或裝置的雜訊底限,是確保最佳訊號雜訊比 (SNR) 的有效方法。雜訊是電路的基本特性,由熱產生所引起。瞭解雜訊來源至關重要。例如,熱雜訊、散粒雜訊或干擾雜訊是預測射頻產品性能的關鍵參數,並可能對位元錯誤率 (BER)、延遲和吞吐量產生不利影響。

待測裝置 (DUT) 的雜訊指數,是指訊號通過 DUT 時訊雜比 (SNR) 的劣化程度。雜訊指數是使用雜訊指數分析儀量測的,其最基本的形式包含一個帶有精準功率偵測器的接收器,以及一個為雜訊源供電的電路。雜訊指數分析儀提供過量雜訊比 (ENR) 輸入功能,並顯示與其調諧頻率相對應的雜訊指數值。在內部,雜訊指數分析儀使用 Y 因子法計算雜訊指數。

SNR 量測解決方案

實現最佳訊號雜訊比 (SNR) 需要量測和管理裝置的雜訊底限。Keysight NFA X 系列雜訊指數分析儀、Keysight PXIe 向量訊號分析儀和 Keysight SNS 系列雜訊源共同提供解決方案,以高準確度和速度量測 SNR。透過整合 Keysight TestExec SL 軟體,您可以在製造環境中自動化測試,以提高效率和品質。

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