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利用適用於 A-LFNA 和 WGFMU 的統包式量測驅動程式和量測例行程序，自動執行晶圓級低頻雜訊量測。
產品特性
W7802B PathWave WaferPro A-LFNA 量測與程控軟體具備下列特性：
- 可與 PathWave WaferPro 量測平台無縫整合
- 進階資料顯示與分析功能，可針對偏壓電流進行雜訊資料比較和建模
- 可自動控制所有主要的晶圓探量系統
- A-LFNA 模組具有直流量測、1/f 雜訊、隨機電報雜訊（RTN）和資料分析功能
- 靈活的硬體平均功能，可兼顧傳輸速率與準確度
- 多種內建偏壓機制，可用於閃變雜訊特性分析
- 量測資料與是德科技元件建模軟體相容
- 引導式系統校驗程序
- 支援 PEL 和 Python 量測例行程式語言
- RTN 的 Ton 和 Toff 分析
進階低頻雜訊分析儀（A-LFNA）軟體和操作介面，建構於 PathWave WaferPro 量測平台之上。 工程師現在可透過靈活且可擴充的量測系統，管理並自動執行完整的晶圓級特性分析。 工程師可一如既往地使用 PathWave WaferPro 軟體，對高速直流、電容和射頻參數量測進行程控與排序，同時還可自動執行晶圓探測控制。 有了新推出的雜訊量測模組，現在他們可在測試套件中新增雜訊量測和分析功能。
Keysight A-LFNA 內建的量測程式提供統包式直流和雜訊量測功能。 舉例而言，如需量測 N 型 MOSFET 的雜訊，測試系統可自動選擇信號源，接著載入可完整揭露元件固有雜訊的阻抗。 工程師可接受建議的設定，也可自行修改，然後開始進行量測。 接著 Keysight A-LFNA 便開始量測雜訊功率頻譜密度（1/f 雜訊）和時域（RTN）內的雜訊。 它還可透過「多圖」資料顯示視窗，將量測到的資料繪製成圖。 您可使用各種不同的視窗分頁（windows tab）加速處理一般任務，例如：評估元件的直流操作點、量測功率頻譜密度曲線的斜率。
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