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W7802B PathWave WaferPro A-LFNA 測定およびプログラミング
A flexible, open test executive platform to automate wafer-level low-frequency noise measurements of semiconductor devices and circuits with the A-LFNA and WGFMU
スタート価格:
Execute automated wafer-level low-frequency noise measurements with turnkey measurement drivers and measurement routines for both A-LFNA and WGFMU.
ハイライト
W7802B PathWave WaferPro A-LFNA 測定およびプログラミングには次の特徴があります：
- PathWave WaferPro測定プラットフォームとシームレスに統合
- 高度なデータディスプレイと解析により雑音データ比較とバイアス電流に対するモデリングが可能
- すべての主要なウエハー・プロービング・システムの自動制御
- A-LFNAモジュールはDC測定、1/fノイズ、ランダム・テレグラフ・ノイズ(RTN)およびデータ解析機能を備えています。
- 柔軟なハードウェアアベレージングにより、スループットと確度のトレードオフが可能
- フリッカーノイズ評価のための複数の内蔵バイアス方式
- キーサイトのデバイス・モデリング・ソフトウェアと互換性のある測定データ
- 校正手順のガイドシステム
- PELおよびPython測定ルーチン言語をサポート
- RTNのTonおよびToff解析
高性能低周波ノイズアナライザ (A-LFNA) ソフトウェアおよびユーザーインタフェースはPathWave WaferPro測定プラットフォームをベースにしています。 柔軟性と拡張性に優れた測定システムでのウエハーレベルの特性評価を管理／自動化することができます。 以前と同様に、PathWave WaferProを使用している人は、ウェーハプローバ制御を自動化しながら、パラメータ測定として高速DC、キャパシタンス、RFをプログラムし、シーケンスすることができます。 ノイズ測定モジュールを使えば、テストスイートにノイズ測定および解析を追加できるようになりました。
A-LFNAの内蔵測定ルーチンにより、DCとノイズの測定が簡単に行えます。 例えば、N型MOSFETのノイズを測定する場合、デバイスノイズを適切に測定できるように、システムが自動的に最適なソースインピーダンスと負荷インピーダンスを選択します。 ノイズ測定において、システムの推奨設定をそのまま使用するか、設定を変更するかも選択できます。 A-LFNAは次に、ノイズ・パワー・スペクトル密度（1/fノイズ）とタイムドメインのノイズ(RTN)を測定します。 測定データは、「マルチプロット」データ表示ウィンドウにプロットされます。 さまざまなウィンドウタブを使用して、デバイスのDC動作ポイントの評価やパワースペクトル密度曲線のスロープの測定などの作業が容易に行えます。
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