XP8 系列模組化光調製分析儀,頻率範圍 1 MHz 至 40 GHz,採樣率 20 GSa/s

M8290A 光學調變分析儀與 HSD 測試解決方案平台,適用於 400G 同調元件及發射器測試。92 GSa/s 模組化光學調變分析儀。

產品影像
  • Frequency range

    1 MHz to 40 GHz

  • Wavelength range

    1527.6 nm to 1570.01 nm (with M8292A)

  • Error Vector Magnitude Noise Floor

    < 2.4% EVM rms at 2.5 GHz frequency offset (with M8292A), < 3.5% EVM rms at 10 GHz frequency offset (with M8292A)

  • Analog Bandwidth

    37 GHz (3 dB)

  • Maximum detectable symbol rate

    74 Gbaud

  • Maximum record length

    512 kSa/channel

  • 最高頻率

    42 GHz

  • 類型

    Optical Modulation Analyzer and High-Speed Digitizer

  • Platform

    AXIe

  • 最大的取樣率

    20 GSa/s

  • ADC resolution

    8 bits

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焦點訊息

M8290A 模組化同調測試解決方案

是德科技 M8290A 光學調變分析儀與高速數位轉換器測試解決方案是一個靈活的平台,可支援高達 400G 的同調元件與發射器測試。該解決方案包含一台 92 GSa/s 模組化光學調變分析儀,以及一台 92 GSa/s 4 通道電氣數位轉換器。 此平台在同一 AXIe 機箱中,新增了一個速率高達 92 GSa/s 的任意波形產生器模組。這個小巧靈活的測試解決方案,可輕鬆與軟體整合,以便對整合式同調接收器(ICR)和同調光學元件(COD)模組進行特性分析。

  • 小巧靈活的 AXIe 模組化機箱
  • 最大符碼率:74 Gbaud
  • 取樣率:83 至 92 GSa/s
  • 最大記錄長度:512 k 個樣本
  • 8 位元 ADC 解析度

應用軟體

  • 同調光學發射器測試
  • 同調接收器 ICR 測試
  • 同調光學發射與接收裝置
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