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球面近場天線量測
球面近場天線量測
透過球面近場量測功能全面分析天線特性
球面近場量測可以針對天線設計進行完整的特性分析。 當執行近場量測,固定探棒在球面表面上量測電磁場資料時,待測天線會沿著雙軸旋轉。
Nearfield Systems Inc. (NSI) 的 700S-30 球面近場掃描裝置可在執行量測時,提供精確的定位天線和測試探棒機構。700S-30 採用雙軸phi-over-theta高精度步進馬達來定位待測天線。 它可以讓天線進行完整球面的 360º phi/theta 旋轉,兩軸皆具有 0.0125º 的解析度以及每秒 20º 的旋轉速度。
為了量測天線特性,700S-30 可以和各種是德科技的射頻與微波測試設備連線運作,包括 PNA 系列微波網路分析儀。藉由將 700S-30 球面近場掃描裝置與 Keysight PNA 網路分析儀搭配運作,您可對天線設計進行精確而完整的特性分析。
- 可對天線進行完整特性分析的小型化球面近場掃描裝置
- 可定位待測天線和探棒,以進行精確量測
- 700S-30 採用雙軸 phi-over-theta 高精度步進馬達來定位待測天線
- 能以每秒 20º 的速度進行完整的球面 360º phi/theta 旋轉
- 模組化的高強度鋁製結構可承受高達 40 Kg 的重量
- 軟體可依照量測參數自動進行掃描裝置設定
- 可搭配 Keysight PNA 網路分析儀一起運作
欲瞭解此解決方案如何滿足您的特定需求,請聯絡是德解決方案合作夥伴 NSI。