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硅光芯片及器件on-wafer测试技术研讨会

October 4, 2023

日期

10:00AM - 12:30 PM PT

活動日程

2 小時

期間

虛擬

地點

立即報名

活動介紹

會議簡介

光子集成可提供更高的密度、更好的性能和更低的成本,從而為多太比特乙太網的切換和通信、量子計算、激光雷達和生物傳感應用提供支持。晶圓級進行快速、全面的高品質參數化測試,生成大量關於器件性能的數據,從而用於設計驗證,減少進行大批量製造時選擇合格裸片所花費的時間。本期技術研討會是德科技聯合FormFactor的高級光學工程師袁博士將對矽光器件發展趨勢及晶圓/芯片級測試方案做相關介紹。

會議日程

  1. 矽光晶片及器件on-wafer發展趨勢及測試解決方案更新
  2. 超越電子:矽光子器件的晶圓和晶片級創新測試方案
  3. 答疑與抽獎

哪些人適合參加此活動?


  •  矽光研發工程師
  •  設計製造工程師
  •  系統管理人員
  •  半導體產業研究人員
  •  測試與量測技術人員
  • 技術經理及主管

October 4, 2023

日期

10:00AM PT

活動日程

90

期間

虛擬

地點

立即報名