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会議簡介
光子集積は、より高い密度、より優れた性能、より低いコストを提供し、マルチテラビットイーサネットのスイッチングと通信、量子コンピューティング、LiDAR、バイオセンシングアプリケーションをサポートします。ウェハーレベルで迅速かつ包括的な高品質パラメトリックテストを実施し、デバイス性能に関する大量のデータを生成することで、設計検証に利用し、大量生産時に適格なベアチップを選択する時間を短縮します。今回の技術セミナーでは、キーサイト・テクノロジーとFormFactorのシニア光学エンジニアである袁博士が、シリコンフォトニクスデバイスの開発動向とウェハー/チップレベルテストソリューションについて紹介します。
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