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AI 的爆炸性普及對所有領域都提出了新的效能和準確度要求，從數位介面到記憶體和光通訊皆是如此。Digital X AI 專題是 Keysight World Tech Day 網路研討會系列的一部分，其中包含涵蓋關鍵技術和尖端測試策略的專題會議，工程師和研究人員必須在這次轉型中掌握這些知識。
從基於 HBM 的 AI 運算架構、PCIe® 7.0 和 CXL 的高速介面分析、DDR/MIPI® 合規性驗證、1.6/3.2 Tbps 資料中心轉型策略，甚至矽光子學 — 我們深入探討了塑造 AI 基礎設施未來的核心技術。
探索有助於您為即將到來的數位轉型和 AI 加速時代做好準備的深入見解。
1 月 20 日 (星期二)
- 10:00：未來 AI 技術和 HBM 驅動的開發策略
- 11:00：重新定義 AI 時代的超高速量測 – 新一代數位介面策略
1 月 21 日 (星期三)
- 10:00：DDR/MIPI® 系統的新一代相符性測試策略
- 上午 11:00：PCIe® 7.0 之旅：64 Gbaud PAM4 測試挑戰
1 月 22 日 (星期四)
- 上午 10:00：超大規模和 AI 資料中心轉型至 1.6 Tbps 和 3.2 Tbps
- 上午 11:00：矽光子學：驅動光學互連的未來