網路研討會
隨著半導體元件日趨複雜，工程團隊面臨著越來越大的壓力，必須在縮短開發時間的同時，維持量測準確度、產品品質與可靠性。
歡迎參加是德科技舉辦的技術網路研討會，探索整合式工作流程如何協助加速半導體創新，從 IC 設計、晶圓級特性分析到最終功能測試。透過實際的使用情境，您將了解工程師如何改善模擬與晶片量測結果的關聯性、簡化驗證流程、自動化量測，並在整個開發生命週期中獲得更高的信心。
無論您是在設計 RF 電路、進行晶圓級元件特性分析，或是驗證先進的光子積體電路，都能探索有助於將次世代半導體產品更快推出市場的實用方法。
本網路研討會專為半導體設計、驗證與測試工程師，以及 RF、微波、光子學與光學測試工程師所設計。對於研發工程師、工程經理以及任何參與半導體開發、元件特性分析或生產測試的人員也都極具價值。