入力のしきい値マージンを検証する方法

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入力スレッショルド・マージンの検証

デバイスがマージナルな電圧レベル付近、スローエッジ、またはパルス振幅のわずかな変化で状態を変化させるとき、入力スレッショルド・マージンの不具合を切り分けることは困難です。デバイスが公称パルス試験をパスしても、入力のハイレベル、ローレベル、遷移レート、またはスレッショルド交差ポイントが境界条件に近づくと、不具合が発生する場合があります。

課題は、デバイスのスレッショルド動作と、上流の信号経路における制御されていない動作を切り離すことです。ソースがレベル、エッジ、およびタイミングを再現性よく維持できない場合、エンジニアは、不具合の原因がデバイスの入力スレッショルド、信号振幅マージン、エッジ配置、あるいは刺激の変動のいずれであるかを判断できない可能性があります。

しきい値マージン検証ソリューション

入力スレッショルド・マージンの検証には、既知のパルス刺激を印加し、想定される入力スイッチング・ポイントの周辺で信号レベル、エッジ挙動、およびタイミングを調整する必要があります。レベル、エッジ、タイミング、およびファンクション任意波形機能を備えたキーサイトのパルスジェネレータは、デバイス入力におけるスレッショルド動作を確認するための制御された刺激を提供します。エンジニアは、出力遷移やエラー応答をモニタリングしながら、ハイレベルとローレベル、パルス振幅、オフセット、エッジ動作、遅延、および繰り返し動作を設定できます。このセットアップは、デバイスの動作が公称パルス条件ではなくマージナルなスレッショルド交差に依存している場合の機能デバッグをサポートします。
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