入力のしきい値マージンを検証する方法

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入力の許容範囲の検証

デバイスが限界電圧レベル付近、エッジの立ち上がり・立ち下がりが緩やかな場合、またはパルス振幅のわずかな変化の際に状態変化を起こす場合、入力しきい値マージンの不適合を特定することは困難です。デバイスは公称パルス試験には合格しても、入力のハイレベル、ローレベル、遷移速度、またはしきい値の越え点が境界条件に近づくと、試験に不合格となる場合があります。

課題は、デバイスのしきい値動作と、上流の信号経路における制御不能な動作とを区別することです。ソースがレベル、エッジ、およびタイミングを繰り返し維持できない場合、エンジニアは、故障の原因がデバイスの入力しきい値、信号振幅マージン、エッジの位置、あるいは刺激のばらつきによるものなのかを特定できない可能性があります。

しきい値マージン検証ソリューション

入力しきい値マージンの検証には、既知のパルス刺激を印加し、予想される入力スイッチングポイント周辺の信号レベル、エッジ挙動、およびタイミングを調整する必要があります。 レベル、エッジ、タイミング、および任意の関数生成機能を備えたキーサイトのパルス発生器は、デバイスの入力におけるしきい値動作を検証するための制御された刺激を提供します。エンジニアは、出力の遷移やエラー応答を監視しながら、ハイレベルおよびローレベル、パルス振幅、オフセット、エッジ動作、遅延、および繰り返し動作を設定できます。この設定は、デバイスの動作が公称パルス条件ではなく、しきい値の限界的な越え方に依存する場合の機能デバッグをサポートします。
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