変調信号およびバースト信号の検証方法

高性能卓上型波形・関数発生器
+ 高性能 卓上型波形・関数発生器

自信を持って現実的な刺激をテストする

現代の被試験デバイス(DUT)の検証では、理想的な正弦波や方形波だけでは不十分な場合が多くあります。エンジニアは、機能検証、デバッグ、特性評価、ベンチテストといった幅広いワークフローにおいて、現実的な動作条件下でタイミング特性、定常応答、トリガー動作、および信号経路の性能を評価するために、再現性のある変調、スイープ、およびバースト刺激を必要としています。

信号が複雑になるにつれ、刺激信号の品質が低いと、被試験デバイス(DUT)の挙動を明確に特定したり、テスト条件を再現したり、検証結果を信頼したりすることが難しくなります。クリーンで再現性の高い波形生成は、不確実性を低減し、テストの一貫性を向上させ、タイミング、応答、挙動、およびデバイスの総合的な性能を評価する際に、エンジニアの確信を高めるのに役立ちます。

変調、スイープ、およびバースト試験ソリューション

DUT(被試験装置)の機能を正確に検証するには、現実的なテスト刺激を生成することが不可欠です。高度なベンチトップ型波形・関数発生器を使用することで、エンジニアは、振幅変調(AM)、周波数変調(FM)、位相変調(PM)、周波数シフトキーイング(FSK)、パルス幅変調(PWM)などの標準的な変調方式に加え、クリーンで再現性の高い変調波形、スイープ波形、バースト波形を生成することができます。 改良されたサンプリング手法により、従来の直接デジタル合成(DDS)方式と比較して、信号シミュレーションの忠実度と波形再現性が向上します。これにより、より正確なテスト信号の作成が容易になり、波形歪みを低減できるほか、実験室でDUTのタイミング、応答、動作、および全体的な機能性能を評価する際に、実際の動作条件をより忠実に再現できるようになります。

変調、スイープ、およびバースト試験ソリューションのブロック図

変調スイープおよびバーストのテスト方法 - ブロック図

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