任意波形を用いて被試験装置（DUT）を駆動する方法

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DUTにリアルな波形を注入する

エンジニアは、理想化された正弦波、方形波、またはパルス出力に頼るのではなく、現実的な信号条件下でデバイスをテストする必要があることがよくあります。多くの検証ワークフローでは、期待される動作を再現し、特定のポイントで制御された不具合を発生させ、繰り返されるテストサイクルを通じて波形形状を維持できる任意波形が必要とされます。これにより、被試験デバイス（DUT）の一貫性のある有意義な評価が可能になります。

波形シーケンス機能により、エンジニアは変更された信号セグメントのみを更新し、検証済みの波形セクションを再利用し、波形全体を再構築することなく波形状態間の遷移を自動化できるため、このプロセスが改善されます。これにより、開発工数が削減され、デバッグが迅速化されるほか、被試験装置（DUT）の応答試験の効率と再現性が向上し、実際の動作条件をより忠実に反映できるようになります。

恣意的なDUT刺激ソリューション

現実的なDUT（被試験デバイス）の刺激には、理想化された正弦波、方形波、またはパルス出力だけでは不十分な場合が多くあります。エンジニアは、想定される動作条件を再現し、制御された不具合を注入し、機能テスト中に再現性のある信号挙動を維持できる任意波形を必要としています。これにより、より現実的で過酷な信号シナリオ下でのDUTの性能評価が可能になります。シーケンス機能、トリガーベースの遷移、および効率的な波形セグメントの再利用をサポートするAdvanced Benchtop Waveform and Function Generatorsを使用することで、変更される波形部分のみを更新したり、信号状態間の遷移を自動化したり、繰り返し実行においても波形の整合性を維持したりすることが容易になります。これにより、デバッグの効率化とテスト全体の再現性の向上が図れます。

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