임의 파형으로 DUT를 자극하는 방법

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+ Advanced 벤치탑 파형 및 함수 발생기

DUT에 실제와 같은 파형 주입

엔지니어는 이상적인 사인파, 구형파 또는 펄스 출력에 의존하는 대신 실제와 같은 신호 조건에서 디바이스를 테스트해야 하는 경우가 많습니다. 많은 검증 워크플로에는 예상되는 작동 동작을 재현하고, 정확한 지점에 제어된 결함을 주입하며, 반복적인 테스트 주기 동안 파형 모양을 유지하여 일관되고 의미 있는 DUT(Device Under Test) 평가를 보장할 수 있는 임의 파형이 필요합니다.

파형 시퀀싱은 엔지니어가 변경되는 신호 세그먼트만 업데이트하고, 검증된 파형 섹션을 재사용하며, 전체 파형을 다시 구축하지 않고도 파형 상태 간 전환을 자동화할 수 있도록 함으로써 이 프로세스를 개선합니다. 이를 통해 개발 노력을 줄이고 디버깅 속도를 높이며, DUT 응답 테스트를 더욱 효율적이고 반복 가능하며 실제 작동 조건을 대표하도록 만듭니다.

임의의 DUT 자극 솔루션

실제와 같은 DUT 자극은 이상적인 사인파, 구형파 또는 펄스 출력 이상의 것을 요구하는 경우가 많습니다. 엔지니어는 예상 작동 조건을 재현하고, 제어된 결함을 주입하며, 기능 테스트 중에 반복 가능한 신호 동작을 유지할 수 있는 임의 파형이 필요합니다. 이를 통해 보다 대표적이고 까다로운 신호 시나리오에서 DUT 성능을 평가할 수 있습니다. 시퀀싱, 트리거 기반 전환 및 효율적인 파형 세그먼트 재사용을 지원하는 Advanced 벤치탑 파형 및 함수 발생기는 파형에서 변경되는 부분만 업데이트하고, 신호 상태 간 전환을 자동화하며, 반복 실행 전반에 걸쳐 파형 무결성을 유지하는 것을 더 쉽게 만듭니다. 이는 디버깅을 간소화하고 전반적인 테스트 반복성을 향상시키는 데 도움이 됩니다.

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