회로 테스트를 위한 임의 파형 생성 방법

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실제와 같은 테스트 자극 생성

엔지니어가 실제 작동 조건에서 회로를 검증해야 할 때 표준 내장 파형만으로는 충분하지 않은 경우가 많습니다. 많은 디바이스는 기능 테스트 및 벤치 레벨 검증 중에 기본 사인, 구형 또는 펄스 출력만으로는 재현할 수 없는 복잡한 신호 패턴, 타이밍 변화 및 과도 현상에 반응합니다.

임의 파형 생성은 실제 동작을 더 잘 반영하는 맞춤형 자극을 가능하게 하여 이러한 격차를 해소하는 데 도움이 됩니다. 이를 통해 정확한 회로 검증, 향상된 디버그 효율성 및 더욱 신뢰할 수 있는 설계 평가에 필요한 정밀한 신호 파형으로 성능을 검증하고, 엣지 케이스 오류를 찾아내며, 기능 테스트를 반복하기가 더 쉬워집니다.

임의 파형 테스트 솔루션

엔지니어는 맞춤형 임의 파형을 생성, 수정 및 시퀀싱하여 회로 테스트를 더욱 현실적이고 반복 가능하게 만들 수 있습니다. 파형 수정, 정밀 트리거 스위칭, 세그먼트 재사용 및 재정렬, 자동 주파수 스위핑, 시퀀싱 제어와 같은 기능은 광범위한 검증 워크플로우를 위한 복잡한 신호 생성을 지원합니다. 벤치 구현을 위해 키사이트 Advanced 벤치탑 파형 발생기는 실제 작동 조건을 더 잘 나타내는 맞춤형 테스트 신호 생성을 지원합니다. 이는 엔지니어가 회로 동작을 검증하고, 엣지 케이스 문제를 찾아내며, 기능 테스트 워크플로우를 간소화하는 데 도움이 됩니다. 그 결과 자극 생성의 유연성이 향상되고, 테스트 충실도가 개선되며, 설계 검증에서 반복 가능한 벤치 검증에 이르는 경로가 더욱 효율적이게 됩니다.
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