アンプのRF試験を効率化する方法

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高速アンプのラインスクリーニング

アンプの製造テストでは、再現性の高い高周波刺激を使用して、製造条件全体にわたる出力電力応答、ゲインコンプレッション、および2トーン混変調歪みをスクリーニングします。セットアップには通常、1つ以上のコンパクトなアナログ信号発生器、校正済みケーブルまたはスイッチング、減衰器、および測定レシーバ、信号アナライザ、またはパワーメータが含まれ、アンプの出力を評価します。

信号ソースは、コンプレッションまたは混変調テストに必要なターゲットキャリア周波数、入力レベル、スイープ動作、およびトーン間隔に設定されます。高速な周波数および振幅の切り替えにより短いテストシーケンスがサポートされ、一方で低い位相雑音と安定した出力レベルにより、製造ステーション全体で一貫した刺激条件を維持できます。

高速増幅器向けRFテストソリューション

アンプの製造テストには、コンパクトなソースハードウェア、再現性の高い信号レベル、および製造テストシーケンス全体での高速な周波数または振幅の変更が必要です。このソリューションでは、コンパクトなアナログ信号発生器を使用して、ゲインコンプレッション、出力電力、および2トーン混変調歪みのスクリーニングに向けた制御された高周波刺激を提供します。エンジニアは、キャリア周波数、入力パワー、スイープ動作、およびトーン間隔を設定して、アンプの直線性と製造マージンを評価できます。このセットアップは、高ボリュームの製造条件でアンプのパフォーマンスを検証する必要がある場合に、効率的なステーション設計、より短いテストシーケンス、および一貫した合否スクリーニングをサポートします。
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