アンプのRF試験を効率化する方法

必須の信号発生器
+ 必須の 信号発生器

速度増幅器ラインのスクリーニング

アンプの製造試験では、再現性のある高周波刺激を用いて、各種製造条件下における出力電力特性、ゲイン圧縮、および2トーン相互変調歪みをスクリーニングします。この試験構成には通常、1台以上のコンパクトなアナログ信号発生器、校正済みのケーブルまたはスイッチング装置、減衰器、およびアンプの出力を評価するための測定用受信機、信号アナライザ、またはパワーメータが含まれます。

この信号源は、圧縮試験や相互変調試験で必要とされる目標搬送波周波数、入力レベル、スイープ特性、およびトーン間隔に合わせて設定されています。高速な周波数および振幅の切り替えにより、試験シーケンスの短縮が可能であり、低位相ノイズと安定した出力レベルにより、各生産ステーション間で一貫した刺激条件を維持することができます。

高速増幅器向けRFテストソリューション

増幅器の製造試験には、コンパクトな信号源ハードウェア、再現性のある信号レベル、および生産試験シーケンス全体にわたる高速な周波数または振幅の変化が求められます。このソリューションでは、コンパクトなアナログ信号発生器を使用して、ゲイン圧縮、出力電力、および2トーン相互変調歪みのスクリーニングのための制御された高周波刺激を提供します。 エンジニアは、搬送波周波数、入力電力、スイープ特性、およびトーン間隔を設定して、アンプの直線性および生産マージンを評価できます。この設定により、大量生産環境下でアンプの性能を検証する必要がある場合でも、効率的なステーション設計、テストシーケンスの短縮、および一貫した合否判定が可能になります。

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アンプのRF試験を高速化する方法 ブロック図

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