テスト用に複雑な動作サイクルを再現する方法

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高性能な卓上型波形・関数発生器
+ Expert ベンチトップ任意波形／ファンクション・ジェネレータ
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州、遷移、および滞留期間を通じて、刺激の一貫性を確保する

機能試験では、被試験装置（DUT）に対して、単一の静的な信号状態ではなく、動作サイクル全体を再現する必要がある場合があります。刺激には、通常の動作中に発生するシーケンスを表す、複数の電気的状態、保持期間、遷移、および反復イベントが含まれることがあります。完全な入力条件を一貫して再現するためには、サイクルの各部分が意図された順序で、かつ定義された期間だけ発生する必要があります。

また、この試験では、各動作状態および遷移における被試験装置（DUT）の応答を測定しながら、サイクル全体を繰り返し再生する必要があります。エンジニアは、一貫した刺激のタイミングと波形の詳細を維持しつつ、個々の状態中、状態境界、あるいは繰り返しサイクル全体にわたる挙動を観察する必要がある場合があります。その結果得られた測定値は、同じ機能試験条件下で、サイクルごとに比較することができます。

繰り返し可能な動作サイクルの刺激ソリューション

テストを実施するには、必要な動作サイクルを構成する電気的状態、遷移、滞留期間、および繰り返しイベントを定義し、各テスト実行においてその完全な刺激を再現します。Expert Benchtop波形・関数発生器は、任意波形生成機能を備えており、タイミングや信号の詳細を制御しながら、複雑なデバイス刺激を作成・再生することができます。 個々の波形セクションは動作サイクルの異なる部分を表すことができ、すべてのテスト条件ごとに信号全体を再作成することなく、再現性のある再生が可能になります。波形メモリとシーケンス制御により、より長く、より複雑なサイクルに対応でき、また、正確な波形再現により、繰り返される機能テストを通じて意図した信号特性を維持することができます。その後、サイクル全体を通じて、適切な測定機器を使用してデバイスの応答を捕捉することができます。
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テスト用に複雑な動作サイクルを再現する方法

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