テスト用に複雑な動作サイクルを再現する方法

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高性能な卓上型波形・関数発生器
+ Expert ベンチトップ任意波形／ファンクション・ジェネレータ
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状態、遷移、およびドウェル期間全体で一貫した刺激信号を確保する

機能テストでは、単一の静的な信号条件だけでなく、被測定デバイス（DUT）に動作サイクル全体を経験させることが求められる場合があります。刺激信号には、通常の動作中に遭遇するシーケンスを表す、複数の電気的状態、ドウェル期間、遷移、および繰り返しイベントが含まれることがあります。完全な入力条件を再現できるように、サイクルの各部分は意図した順序で、定義された持続時間の間発生する必要があります。

また、このテストでは、各動作状態および遷移にわたってDUTの応答を測定しながら、完全なサイクルの再現性のある再生も必要です。エンジニアは、一貫した刺激信号のタイミングと波形の詳細を維持しながら、個々の状態中、状態の境界で、または繰り返されるサイクル全体にわたって動作を観測する必要がある場合があります。その結果得られた測定値は、同じ機能テスト条件下で、サイクルごとに比較することができます。

繰り返し可能な動作サイクルの刺激ソリューション

必要な動作サイクルを構成する電気的状態、遷移、ドウェル期間、および繰り返しイベントを定義し、テスト実行ごとにその完全な刺激信号を再生することによってテストを実行します。Expertベンチトップ波形/ファンクション・ジェネレータは、制御されたタイミングと信号の詳細を備えた複雑なデバイス刺激信号を作成および再生するための任意波形生成機能を提供します。 個々の波形セクションは動作サイクルの異なる部分を表すことができ、すべてのテスト条件に対して信号全体を再作成することなく、再現性のある再生ができるように配置できます。波形メモリとシーケンス制御により、より長く複雑なサイクルがサポートされる一方、高精度な波形再現により、繰り返し行う機能テスト全体にわたって意図した信号特性を維持することができます。その後、サイクル全体を通じて適切な測定器でデバイスの応答を捉えることができます。
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テスト用に複雑な動作サイクルを再現する方法

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