サンプリングオシロスコープを用いた224 Gb/s PAM4電気波形の解析方法

モジュラー式サンプリングオシロスコープ
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高忠実度 224G PAM4 信号測定

224 Gb/sのパルス振幅変調4レベル(PAM4)電気波形は、次世代の800G、1.6T、およびそれ以上の高速相互接続において、極めて高速なエッジレート、電圧マージンの縮小、ならびにチャネル損失やノイズに対する感度の向上により、測定上大きな課題をもたらします。 エンジニアは、シグナルインテグリティを評価するために波形形状、レベル分離、およびタイミング挙動を正確に評価する必要がありますが、測定帯域幅の制限、ノイズ、および信号アクセス上の制約により、捕捉された波形が歪み、送信機の真の性能が正確に把握できなくなる可能性があります。

正確な224G波形解析には、正確な波形再構成を確実にするために、高い電気的帯域幅、低ノイズの取得、最小限の信号経路損失、および正確なタイミング同期が必要です。 測定は、波形の忠実度を維持するために、信号源の近くに高帯域幅の電気サンプリングモジュールを配置したサンプリングオシロスコープを使用して行うことができます。このワークフローでは、同期化されたタイミングリファレンスを使用して反復的なPAM4信号をキャプチャし、測定による歪みを最小限に抑えた条件下で、アイダイアグラム、電圧レベル、ジッタ、および遷移挙動の解析を可能にします。

224 Gb/s 電気波形解析ソリューション

224 Gb/s PAM4の電気波形を解析するには、波形の完全性を維持するために、十分な帯域幅を備え、測定歪みを最小限に抑えた高速信号の取得が必要です。 キーサイトの224 Gb/s電気波形解析ソリューションには、高帯域幅の電気サンプリングモジュールを備えたモジュラー型サンプリングオシロスコープが含まれています。このワークフローにより、エンジニアはデバイスに近い位置での信号取得が可能となり、測定前のパスロスを低減し、アイ品質、レベル分離、およびタイミング挙動を高精度で解析することができます。

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