Analyse von 224 Gb/s PAM4 elektrischen Wellenformen mit Sampling-Oszilloskopen

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Hochpräzise 224G PAM4 Signalmessung

Eine elektrische 224 Gb/s Pulsamplitudenmodulation mit 4 Pegeln (PAM4) stellt aufgrund extrem schneller Flankenraten, reduzierter Spannungsmargen und erhöhter Empfindlichkeit gegenüber Kanalverlusten und Rauschen in Interconnects der nächsten Generation mit 800G, 1.6T und höheren Geschwindigkeiten erhebliche Messherausforderungen dar. Ingenieure müssen Wellenform, Pegeltrennung und Zeitverhalten genau bewerten, um die Signalintegrität zu beurteilen, aber Messbandbreitenbeschränkungen, Rauschen und Signalzugangsbeschränkungen können die erfasste Wellenform verzerren und die wahre Senderleistung verschleiern.

Eine präzise 224G-Wellenformanalyse erfordert eine hohe elektrische Bandbreite, rauscharmen Erfassung, minimale Signalpfadverluste und eine genaue Zeitsynchronisation, um eine präzise Wellenformrekonstruktion zu gewährleisten. Die Messung kann mit einem Sampling-Oszilloskop mit einem elektrischen Sampling-Modul mit hoher Bandbreite durchgeführt werden, das nahe an der Signalquelle positioniert ist, um die Wellenformtreue zu erhalten. Dieser Workflow erfasst repetitive PAM4-Signale unter Verwendung einer synchronisierten Zeitreferenz, was die Analyse von Augendiagrammen, Spannungspegeln, Jitter und Übergangsverhalten unter Bedingungen ermöglicht, die messinduzierte Verzerrungen minimieren.

224 Gb/s Lösung zur Analyse elektrischer Wellenformen

Die Analyse von 224 Gb/s PAM4 elektrischen Wellenformen erfordert die Erfassung von Hochgeschwindigkeitssignalen mit ausreichender Bandbreite und minimaler Messverzerrung, um die Wellenformintegrität zu erhalten. Die Keysight 224 Gb/s Lösung zur Analyse elektrischer Wellenformen umfasst ein modulares Sampling-Oszilloskop mit einem elektrischen Sampling-Modul mit hoher Bandbreite. Der Workflow ermöglicht es Ingenieuren, eine signalnahe Erfassung durchzuführen, Pfadverluste vor der Messung zu reduzieren und Augenqualität, Pegeltrennung und Zeitverhalten mit hoher Genauigkeit zu analysieren.

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