샘플링 오실로스코프를 사용하여 224 Gb/s PAM4 전기 파형을 분석하는 방법

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+ 모듈형 샘플링 오실로스코프

고충실도 224G PAM4 신호 측정

224 Gb/s 펄스 진폭 변조 4레벨(PAM4) 전기 파형은 차세대 800G, 1.6T 및 그 이상의 고속 상호 연결 환경에서 극도로 빠른 에지 속도, 축소된 전압 마진, 채널 손실 및 노이즈에 대한 민감도 증가로 인해 상당한 측정상의 어려움을 야기합니다. 엔지니어들은 신호 무결성을 평가하기 위해 파형 모양, 레벨 분리도 및 타이밍 거동을 정확하게 평가해야 하지만, 측정 대역폭의 한계, 노이즈 및 신호 접근 제약으로 인해 캡처된 파형이 왜곡되어 실제 송신기 성능을 정확히 파악하기 어려울 수 있습니다.

정확한 224G 파형 분석을 위해서는 정확한 파형 재구성을 보장하기 위해 높은 전기적 대역폭, 저잡음 데이터 수집, 최소한의 신호 경로 손실 및 정밀한 타이밍 동기화가 필요합니다. 파형 충실도를 유지하기 위해 신호원에 근접하게 배치된 고대역폭 전기 샘플링 모듈이 장착된 샘플링 오실로스코프를 사용하여 측정을 수행할 수 있습니다. 이 워크플로는 동기화된 타이밍 기준 신호를 사용하여 반복적인 PAM4 신호를 캡처함으로써, 측정으로 인한 왜곡을 최소화한 조건에서 아이 다이어그램, 전압 레벨, 지터 및 전이 거동을 분석할 수 있게 해줍니다.

224 Gb/s 전기 파형 분석 솔루션

224 Gb/s PAM4 전기 파형을 분석하려면 파형의 무결성을 유지하기 위해 충분한 대역폭과 최소한의 측정 왜곡으로 고속 신호를 캡처해야 합니다. 키사이트의 224 Gb/s 전기 파형 분석 솔루션에는 고대역폭 전기 샘플링 모듈이 탑재된 모듈형 샘플링 오실로스코프가 포함되어 있습니다. 이 워크플로를 통해 엔지니어는 디바이스에 가까운 위치에서 신호를 획득하고, 측정 전 경로 손실을 줄이며, 아이 품질, 레벨 분리도 및 타이밍 거동을 높은 정확도로 분석할 수 있습니다.

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