GDDR7 PAM 아이 다이어그램 측정 방법

전문용 벤치탑 오실로스코프
+ Pro 벤치탑 오실로스코프

GDDR7 인터페이스에서 PAM3 아이 오프닝 및 신호 무결성 측정

GDDR7 아이 다이어그램 측정은 펄스 진폭 변조 3레벨(PAM3) 신호가 전압 마진을 줄이는 동시에 노이즈, 심볼 간 간섭 및 채널 손실에 대한 민감도를 증가시키기 때문에 이전 세대보다 더 어렵습니다. 각 신호에는 아이 높이와 아이 폭을 압축할 수 있는 왜곡을 포함하여 실제 조건에서 명확하게 분리되어야 하는 여러 아이 오프닝이 있습니다. 엔지니어는 실제 신호 무결성을 판단하기 위해 수직 아이 높이, 선형성 및 타이밍 마진을 평가해야 합니다.

엔지니어는 다중 레벨 파형을 정확하게 획득하고 재구성하기 위해 일반적으로 50GHz 이상의 고대역폭 실시간 오실로스코프와 저부하 프로빙 및 PAM 분석 소프트웨어를 사용합니다. 이 시스템은 클럭 복구, 이퀄라이제이션 및 통계 처리를 적용하여 아이 다이어그램을 생성하고 아이 높이, 아이 폭 및 레벨 분리를 추출합니다. 이러한 측정은 디바이스, 채널 및 작동 조건 전반에 걸쳐 신호 무결성을 일관되게 비교할 수 있도록 합니다.

GDDR7 PAM 아이 다이어그램 측정 솔루션

GDDR7 PAM 아이 다이어그램 측정은 감소된 전압 마진에서 아이 오프닝 및 신호 무결성을 평가하기 위해 다중 레벨 파형의 정확한 재구성을 필요로 합니다. 키사이트의 GDDR7 PAM 아이 다이어그램 측정 솔루션은 PAM 분석 소프트웨어와 클럭 복구, 이퀄라이제이션 및 다중 레벨 신호 분리를 통해 PAM3 아이 다이어그램을 생성하는 자동화된 워크플로우를 갖춘 고성능 Pro 오실로스코프를 포함합니다. 이 솔루션은 아이 높이, 아이 폭 및 레벨 분리에 대한 반복 가능한 측정을 제공하여 엔지니어가 공식 컴플라이언스 테스트 전에 신호 저하를 정량화하고, 설계 트레이드오프를 비교하며, 마진 제한을 식별할 수 있도록 합니다.

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