GDDR7のPAMアイダイアグラムの測定方法

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GDDR7インターフェースにおけるPAM3アイ開口と信号品質の測定

GDDR7のアイダイアグラム測定は、パルス振幅変調3レベル（PAM3）シグナリングが電圧マージンを減少させ、ノイズ、符号間干渉、チャネル損失に対する感度を高めるため、以前の世代よりも困難です。各信号には複数のアイ開口があり、アイの高さと幅を圧縮する可能性のある歪みを含む実際の条件下でも明確に分離されている必要があります。エンジニアは、真の信号品質を判断するために、垂直アイハイト、リニアリティ、およびタイミングマージンを評価する必要があります。

エンジニアは、マルチレベル波形を正確に取得および再構築するために、通常50 GHz以上の高帯域リアルタイムオシロスコープと、低負荷プロービングおよびPAM解析ソフトウェアを使用します。システムは、クロックリカバリ、イコライゼーション、および統計処理を適用してアイダイアグラムを生成し、アイハイト、アイ幅、およびレベル分離を抽出します。これらの測定により、デバイス、チャネル、および動作条件全体で信号品質の一貫した比較が可能になります。

GDDR7 PAM アイダイアグラム測定ソリューション

GDDR7 PAMアイダイアグラム測定では、電圧マージンが減少した条件下でアイ開口と信号品質を評価するために、マルチレベル波形の正確な再構築が必要です。キーサイトのGDDR7 PAMアイダイアグラム測定ソリューションには、PAM解析ソフトウェアと、クロックリカバリ、イコライゼーション、マルチレベル信号分離を備えたPAM3アイダイアグラムを生成する自動ワークフローを搭載した高性能なProオシロスコープが含まれています。このソリューションは、アイハイト、アイ幅、およびレベル分離の再現性のある測定を提供し、エンジニアが正式なコンプライアンス試験の前に信号劣化を定量化し、設計上のトレードオフを比較し、マージン制限を特定することを可能にします。
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