3.2T 기술 개발 위한 448 Gb/s PAM 신호 분석 방법

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448Gb/s에서 신호 무결성 한계 이해

신호 방식이 레인당 448Gb/s로 발전함에 따라, PAM6 및 PAM8과 같은 고차 변조 방식이 허용 가능한 성능을 달성할 수 있는지 여부를 결정하기 위해 신호 무결성 분석이 중요해집니다. 이러한 극한의 데이터 전송 속도에서는 아이 오프닝이 크게 줄어들고, 신호는 전기 및 광 채널 전반에 걸쳐 노이즈, 지터, 대역폭 제한 및 비선형 왜곡에 점점 더 민감해집니다. 이러한 영향은 비트 오류율(BER)에 직접적인 영향을 미치며 미래 3.2T 인터커넥트 아키텍처의 실현 가능성을 결정합니다.

이러한 영향을 평가하려면 엔지니어는 수직 노이즈, 타이밍 지터 및 아이 클로저를 해결할 수 있는 고충실도 측정 시스템으로 다중 레벨 PAM 신호를 캡처하고 분석해야 합니다. 샘플링 오실로스코프는 고속 파형을 정밀하게 재구성하고 수백만 개의 획득된 샘플에 걸쳐 신호 분포에 대한 통계적 통찰력을 제공하여 엔지니어가 초기 단계 448Gb/s 경로 탐색 워크플로에서 마진을 정량화하고, 변조 방식을 비교하며, 성능 트레이드오프를 이해할 수 있도록 합니다.

448 Gb/s 신호 분석 솔루션

448Gb/s PAM 신호를 분석하려면 고충실도 파형 획득과 아이 구조, 노이즈 및 타이밍 동작의 정밀한 특성화가 필요합니다. 키사이트 448Gb/s 신호 분석 솔루션은 전기 원격 샘플링 헤드가 있는 모듈형 샘플링 오실로스코프를 사용하여 다중 레벨 PAM 파형을 캡처하고 아이 높이, 지터 및 신호 대 잡음비와 같은 주요 측정항목을 추출합니다. 이러한 측정은 엔지니어가 신호 무결성 한계를 정량화하고, BER을 추정하며, 차세대 인터커넥트 경로 탐색을 위해 PAM4, PAM6, PAM8 성능을 비교할 수 있도록 합니다.
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