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ポジショニングシステムは、被試験デバイス(DUT)の上方にプローブ、レーザー、その他の障害注入機器を正確に配置できるようにすることで、障害注入テストにおいて重要な役割を果たします。正確な位置決めは、デバイスの特定の領域をターゲットにし、障害条件を再現し、複数の評価にわたって一貫した結果を保証するために不可欠です。
DS1010A高精度XYZステージは、3軸にわたって安定した高精度な移動を実現し、セキュリティエンジニアが電磁プローブ、レーザーシステム、その他の障害注入ハードウェアをターゲットデバイスに正確に位置合わせできるようにします。スマートカード、セキュアエレメント、マイクロコントローラ、SoC(システム・オン・チップ)、プリント基板のいずれを評価する場合でも、このステージは幅広いデバイスとテストセットアップをサポートするために必要な柔軟性を提供します。
高度な障害注入ワークフローをサポートするように設計されたDS1010Aは、セットアップの変動性を低減し、ターゲティングの精度とテストの再現性を向上させるのに役立ちます。被試験デバイスの正確な位置決めと自動スキャンを可能にすることで、電圧、電磁気、およびレーザー障害注入環境の基礎的なコンポーネントを形成し、エンジニアがより効率的で信頼性の高いセキュリティ評価を実行できるように支援します。
プローブ、レーザー、および障害注入装置を被試験デバイスの上部に正確に配置し、精度の高いセキュリティ評価を実施します。
複数の実験で一貫した位置決めを維持し、障害条件の再現と結果の検証を確実に行います。
スマートカードやセキュア・エレメントから、より大型の組み込みシステムやプリント回路基板まで、幅広いデバイスに対応します。
高度な障害注入テスト、自動スキャン、および脆弱性評価に必要な安定性と精度を提供します。
Step Size
0.3 µm
動作範囲
X/Y/Z: 50 mm
(SPD)N6700の製品タイプ
Precision XYZ stage
Technology
Device Security
DS1010A
DS1010A高精度XYZステージは、被試験デバイスの上で正確な位置決めを必要とする、さまざまなキーサイトのハードウェアコンポーネント向けのデフォルトのXYZステージです。
DS1010A高精度XYZステージは、被試験デバイスの上で正確な位置決めを必要とする、さまざまなキーサイトのハードウェアコンポーネント向けのデフォルトのXYZステージです。
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位置決めシステムを使用することで、電磁プローブ、レーザーシステム、その他のターゲットハードウェアなどの障害注入装置を被試験デバイスの上部に正確に配置できます。正確な位置決めにより、セキュリティエンジニアはデバイスの特定の領域をターゲットにし、再現性の高い障害注入評価を実行できます。
多くの障害注入攻撃は、デバイスの非常に特定の領域に対して正確な位置で影響を与えることに依存しています。精密な位置決めは、攻撃の再現性を高め、セットアップの変動を抑え、評価結果の信頼性を向上させるのに役立ちます。
DS1010A 精密XYZステージは、高精度かつ高い再現性で障害注入ハードウェアの位置決めを行うために使用されます。被試験デバイスに対する精密なターゲティングを必要とする電磁、光学、およびその他の障害注入手法をサポートします。
位置決めシステムは、複数のテスト実行にわたって同じ攻撃位置を維持するのに役立ちます。これにより、エンジニアは成功した障害条件を再現し、結果を比較し、脆弱性をより効率的に検証することができます。
DS1010Aは、次のようなさまざまな障害注入ハードウェアで使用できます。
電磁障害注入の効果は、プローブの位置によって大幅に異なる場合があります。正確な位置決めにより、エンジニアは感度の高い領域を特定し、攻撃の成功率を最適化し、複数の評価にわたって結果を再現することができます。
はい。DS1010Aは障害注入とサイドチャネル解析の両方のワークフローをサポートするように設計されており、ハードウェアセキュリティテストラボの多目的コンポーネントとして機能します。