Modular Systems

• 6種類の周波数レンジ（最大26.5 GHz）の中から選択可能で、必要に応じた周波数レンジの購入が可能
• 最高のPXI VNA速度、ダイナミックレンジ、トレースノイズ、安定度を実現し、確度、歩留まり、マージンが向上
• 1つのPXIスロットに収納可能なフル2ポートVNAで、テストシステムの機能を拡張
• 複数のモデルをカスケード接続することにより、マルチポート・アプリケーション・ニーズに対応可能
• マルチサイト構成でモジュールを追加することにより、スループットの向上とコストの削減を実現

• スタート・アップ・ガイド
• クイック・スタート・ポスター

• 6種類の周波数レンジ（最大26.5 GHz）の中から選択可能で、必要に応じた周波数レンジの購入が可能
• 最高のPXI VNA速度、ダイナミックレンジ、トレースノイズ、安定度を実現し、確度、歩留まり、マージンが向上
• 1つのPXIスロットに収納可能なフル2ポートVNAで、テストシステムの機能を拡張
• 複数のモデルをカスケード接続することにより、マルチポート・アプリケーション・ニーズに対応可能
• マルチサイト構成でモジュールを追加することにより、スループットの向上とコストの削減を実現

• スタート・アップ・ガイド
• クイック・スタート・ポスター

• 6種類の周波数レンジ（最大26.5 GHz）の中から選択可能で、必要に応じた周波数レンジの購入が可能
• 最高のPXI VNA速度、ダイナミックレンジ、トレースノイズ、安定度を実現し、確度、歩留まり、マージンが向上
• 1つのPXIスロットに収納可能なフル2ポートVNAで、テストシステムの機能を拡張
• 複数のモデルをカスケード接続することにより、マルチポート・アプリケーション・ニーズに対応可能
• マルチサイト構成でモジュールを追加することにより、スループットの向上とコストの削減を実現

• スタート・アップ・ガイド
• クイック・スタート・ポスター

• 6種類の周波数レンジ（最大26.5 GHz）の中から選択可能で、必要に応じた周波数レンジの購入が可能
• 最高のPXI VNA速度、ダイナミックレンジ、トレースノイズ、安定度を実現し、確度、歩留まり、マージンが向上
• 1つのPXIスロットに収納可能なフル2ポートVNAで、テストシステムの機能を拡張
• 複数のモデルをカスケード接続することにより、マルチポート・アプリケーション・ニーズに対応可能
• マルチサイト構成でモジュールを追加することにより、スループットの向上とコストの削減を実現

• スタート・アップ・ガイド
• クイック・スタート・ポスター

• 6種類の周波数レンジ（最大26.5 GHz）の中から選択可能で、必要に応じた周波数レンジの購入が可能
• 最高のPXI VNA速度、ダイナミックレンジ、トレースノイズ、安定度を実現し、確度、歩留まり、マージンが向上
• 1つのPXIスロットに収納可能なフル2ポートVNAで、テストシステムの機能を拡張
• 複数のモデルをカスケード接続することにより、マルチポート・アプリケーション・ニーズに対応可能
• マルチサイト構成でモジュールを追加することにより、スループットの向上とコストの削減を実現

• スタート・アップ・ガイド
• クイック・スタート・ポスター

キーサイトM9471A PXIe周波数拡張モジュールは、M9410AおよびM9411A VXT PXIeベクトルトランシーバーと直接動作するように設計されており、最大26.5 GHzの周波数レンジをカバーします。

• 1 MHz〜26.5 GHzの帯域なしの全周波数をカバレージ
• 最大 1.2 GHz 帯域幅の信号生成／解析により、5G およびWi-Fiアドバンスドのテストニーズに対応
• 高調波測定とスプリアスサーチ
• PathWave 信号生成、X-シリーズ測定アプリケーション、ベクトル信号解析ソフトウェアなど、ベンチトップ測定器で用いられているものと同じ測定アプリケーションソフトウェアを使用することで、さまざまなアプリケーションに対応
• VXT PXIe ベクトルトランシーバーへのシームレスなインタフェース

迅速なソリューション作成と製造テストを目的として設計

• 無線コンポーネント、パワーアンプ、RFフロントエンドモジュールの製造テストで、高速スループットを実現
• 1台の18スロットシャーシに最大4台のVXT装置を搭載し、テスト密度を高め、設置面積を削減
• オープンソースのテストライブラリとリファレンスソリューションで開発時間を短縮

• 内蔵のFPGAにより加速された測定により、開始後すぐに測定完了
• 雑音指数測定と規格に準拠した測定用の実証済みのソフトウェアを用いてテストルーチンの最適化が可能

アプリケーション

• データ収集アプリケーションや自動テスト・アプリケーションでの多数のポイントと1台の測定器との間のスイッチング

機能

• 64チャネルの高密度2線スイッチ・マルチプレクサ
• 100 Vrms
• 0.5 A/1.0 Aのスイッチ／転送電流
• 10 Wの最大パワー

性能特性

• 500 μsの高速リード・リレー
• 別の接点が閉じる前に開く（ブレーク・ビフォア・メイク）または同時スイッチ動作

M9101Aは、高密度の64チャネル・マルチプレクサを1台のPXIモジュールで実現しています。このモジュールは、多数のチャネルを1つのポイントにルーティングします。スイッチは別の接点が閉じる前に開く（ブレーク・ビフォア・メイク）モードで動作できます。この場合、2つのポイントが同時に接続されることはありません。また、必要な場合、複数のチャネルを同時に接続できます。このモジュールは、自動テスト環境（ATE）やデータ収集システムで、複数のアナログ信号を1つの測定デバイスにルーティングするために最適です。各チャネルは、ハイとローの2線をスイッチングします。高速で長寿命のリード・リレーは、最大100 Vrms、最大10 Wのパワーのスイッチングが可能です。接続オプションには、耐久性の高いコネクタ・ブロックまたは標準のケーブル接続があります。

ソフトウェア・ドライバは、Visual Studio®、C、C++、C#、Visual Basic、MATLAB®、LabVIEW™などの一般的なプログラミング環境をサポートします。高品質スイッチと耐久性のある接続により、信頼性の高い測定を実現でき、高速なリード・リレーにより、製品のスループットが向上します。Keysight Connection Expertとソフト・フロント・パネルにより、インストールと設定を容易に行えます。

Visual Studioは、Microsoft Corporationの登録商標です。
MATLABは、The MathWorks, Inc.の登録商標です。
LabVIEWは、National Instrumentsの登録商標です。

• 最大500万サイクルの動作寿命を通して0.03 dBの挿入損失の再現性を保証
• 0～101 dBの広いアッテネータ・レンジ（1 dBステップ）
• 高いアッテネータ確度と±0.4 dB（26.5 GHz）のフラットネス

M9168Cは、PXIハイブリッド・プラットフォームをベースにしたプログラマブル・ステップ・アッテネータ・モジュールです。DC～26.5 GHzで動作し、500万サイクルの動作寿命を通し各セクションで0.03 dBの挿入損失の再現性が保証されています。広い動作温度範囲にわたって優れたアッテネータ確度により、正確な測定を実現できます。

M9168Cは、PXIベースのRF/マイクロ波テスト・システムの測定確度と柔軟性を向上させるシグナル・コンディショニング・モジュールです。

アプリケーション

• RF信号経路の減衰シミュレーション
• エンジニアリング検証
• RFレシーバの感度テスト
• 隣接チャネル干渉

機能

• RFパワー・レベルの正確な制御

優れたRF性能

• セクション当たり最大500万サイクルの動作寿命で0.03 dBの挿入損失の再現性を保証
• 0～101 dBの広いアッテネータ・レンジ（1 dB、5 dB、10 dBステップ）
• 高いアッテネータ確度と±0.4 dB（26.5 GHz）のフラットネス

コンパクトなPXIe CWソースで高出力

M9380A PXIe連続波(CW)ソースは、1 MHzから3または6 GHzの周波数をカバーします。 高出力パワーと高確度の振幅制御を備えたこのアナログ信号源は小型でコスト効率が高く、LOの代用、干渉注入、そして無線コンポーネントテストに最適です。

• コンパクトなモジュラーアナログ信号発生器でスペースを節約
• 局部発振器(LO)の代替、干渉、コンポーネントテストにキーサイトの品質と性能を確保
• ワンステップ・ソフトウェア・インストールで立ち上げ時間の短縮
  

• 周波数帯域全体で＋18 dBmの出力パワーにより、外部増幅の必要性を最小化
  
• 高速自動テストシステムへの容易な統合により、テスト時間を短縮
• ライセンスキーで簡単にアップグレード
  

電圧の変更、安定化、正確な測定を1 ms以内で実行

自動テスト環境では、「時は金なり」という格言は、かつてないほど普及しています。 そのため、テストのスピードは重要です。 デバイスのテストが早ければ早いほど、コスト削減につながります。 キーサイトのM9111A PXIe高速ソース/メジャーユニット(SMU)は、このような環境向けに特別に設計されています。 パワーアンプの設計検証や製造テストにおいて、測定品質を維持しながら高スループットを実現できます。

M9111Aは、出力電圧を変化させ、その電圧を安定させ、アンペアからマイクロアンペアまでの電流を1マイクロ秒以下の正確さで測定できるため、次のテストにできるだけ素早く移行することができます。

• 出力定格：13 V、±1 A、13 Wまたは6 V、±3 A、18 W
• 測定確度：0.05 %＋1 mV、0.05 %＋300 µA（3 Aレンジ）、0.05 %＋100 nA（1 mAレンジ）、0.05 %＋10 nA（100 µAレンジ）
• 電圧および電流を最大200 kサンプル／秒でデジタイズ
• 高速なセトリング時間による高速電圧変動
• 高速リカバリ／低電圧ドループ（DUTが高速展開電流パルスを引き寄せた場合）
• 高速で正確なμAリーク電流測定

素早いソースおよび測定

M9111Aは、1スロット2象限のPXIeモジュールで、安定したグリッチのないソースとシンク、高確度の測定を提供します。 RFパワーアンプのデザイン検証および製造テストに対して高いスループットおよび測定品質を提供します。 M9111A SMUは、極限の動的な負荷条件下でも業界最高の出力安定度および比類のない過渡応答性能により、パルス負荷による電圧降下を大きく削減し、テスト時間を加速します。 高速M9111Aは、出力電圧を変化させ、その電圧を安定させ、アンペアからマイクロアンペアまでの電流を1マイクロ秒以下の正確さで測定できるため、次のテストにできるだけ素早く移行することができます。

M9111AはキーサイトRFパワーアンプ／フロントエンドモジュール(PA/FEM)リファレンスソリューションの一部であり、Sパラメータ、復調、パワー、隣接チャネル漏洩電力、高調波歪測定など、次世代のパワーアンプモジュール（パワーアンプ機器）の詳細な特性評価を迅速に行うことができます。 リファレンスソリューションはコスト削減およびデータスループット拡大というPA/FEM製造に関する2つの主要なテスト問題に対応しています。

• 5 channels, high density per a single-slot module
• Wide output range, up to 30 V / 500 mA per channel
• Resolution down to 6 μV / 100 pA
• Accurate and flexible measurements, from DC to pulsed measurements, with pulse width down to 100 μs at 500 kSa/s sampling rate
• Seamless current measurement ranging

The Keysight M9614A is a PXIe five-channel source / measure unit (SMU). It supports accurate measurement up to 30 V / 500 mA with resolution down to 6 μV / 100 pA. While a PXIe SMU improves channel density compared with a benchtop SMU, the M9614A enables higher channel density in the same footprint. They also provide a wider output range than a conventional PXIe four-channel SMU at a lower cost per channel. Pulsed and sampling capabilities allow the M9614A to perform a variety of measurements, from DC to pulsed measurements, with pulse width down to 100 μs at a sampling rate of 500 kSa/s. Their seamless current measurement ranging function reduces test duration by eliminating the time it takes to change the range and expands the dynamic range to cover four measurement ranges. These capabilities make the M9614A suitable for applications that require high channel density, such as semiconductor reliability testing and integrated circuit (IC) tests.