인라인 IC 구조 스크리닝 범위 극대화 방법

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인라인 IC 구조 스크리닝 범위 극대화

인라인 IC 구조적 스크리닝의 적용 범위를 극대화하는 것은 반도체 패키지의 결함을 식별하고, 제조 품질을 향상시키며, 결함이 있는 제품이 고객에게 전달될 위험을 줄이는 데 필수적입니다. 키사이트의 인라인 구조적 스크리닝은 최종 기능 테스트 전에 구조적 이상을 드러내는 전기적 특성을 측정하여 제조 과정에서 반도체 패키지를 평가합니다. 이 접근 방식은 기존의 개방-단락 테스트나 제한적인 표본 검사를 통해서는 감지되지 않을 수 있는 구조적 결함을 식별하는 데 도움을 줌으로써, 기존의 자동화 테스트 장비(ATE) 및 자동화 X선 검사(AXI)를 보완합니다.

정전용량식 감지 기술은 리드 프레임이나 와이어 본드와 같은 내부 전도성 구조물 간의 전기적 결합을 분석하여 잠재적인 구조적 이상을 식별합니다. 통계적 프로파일 분석은 각 디바이스의 측정 결과를 정해진 생산 기준치와 비교함으로써, 비정상적인 구조적 특성을 자동으로 탐지할 수 있게 합니다. 이 접근 방식을 대량 생산 라인 전반에 적용함으로써, 엔지니어들은 인라인 선별 범위를 확대하고, 결함 탐지 능력을 향상시키며, 생산 품질과 신뢰성을 높일 수 있습니다.

인라인 구조 분석 솔루션

완벽한 구조적 검사를 수행하려면 제조 처리량을 저하시키지 않으면서 고속 전기 검사 시스템을 반도체 생산 공정에 직접 통합해야 합니다. 이 솔루션은 전기 구조 검사(Electrical Structural Testing)와 정전용량식 벡터리스 테스트 강화 프로브(Vectorless Test Enhanced Probe) 기술을 결합하여, 자동화 테스트 장비(ATE) 검사 직후 패키지 내부 구조를 검사합니다.

이 시스템은 기존의 전기적 검사나 X선 검사만으로는 식별하기 어려운 와이어 처짐, 근접 단락, 잘못된 다이 배치, 비정상적인 패키지 구조 등의 구조적 결함을 감지합니다. 내장된 부품 평균 테스트(Part Average Test) 분석 기능은 생산 변동성을 지속적으로 모니터링하고 선별 한계를 동적으로 업데이트하여 오불량률을 줄여줍니다. 최대 20개의 병렬 테스트 사이트를 지원하고 시간당 72,000개에 달하는 처리량을 자랑하는 이 솔루션은 대량 자동차용 반도체 제조 공정에 대한 완전한 인라인 검사를 가능하게 하면서, 누락 결함을 줄이고 제품 품질을 향상시킵니다.

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