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고객의 산업 분야에 특화된 설계 및 테스트 과제를 해결하기 위해 맞춤형으로 엔지니어링된 솔루션입니다.
설계부터 운영에 이르기까지 제품 수명 주의의 모든 단계에 매핑된 사용 사례입니다.
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사용 가능한 필터 없음
사용 가능한 필터 없음
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높은 입력 임피던스를 제공하며 회로 신호 분석을 위한 네트워크 및 스펙트럼 분석기와 함께 사용할 수 있습니다.
높은 입력 임피던스를 제공하며 회로 신호 분석을 위한 네트워크 및 스펙트럼 분석기와 함께 사용할 수 있습니다.
41800A
높은 입력 임피던스를 제공하며 회로 신호 분석을 위한 네트워크 및 스펙트럼 분석기와 함께 사용할 수 있습니다.
키사이트 41800A 액티브 프로브는 5 Hz ~ 500 MHz의 높은 입력 임피던스를 제공합니다. 키사이트 41800A는 회로 신호 분석 목적으로 네트워크 및 스펙트럼 분석기와 함께 사용하기에 유용한 도구입니다.
RF 프로브에 대한 자세한 내용은 키사이트 RF 프로브를 방문하십시오.
더 우수한 정확도와 20 Hz ~ 120 MHz의 더 넓은 임피던스로 E4990A-120에서 회로 내 측정을 수행할 수 있습니다.
더 우수한 정확도와 20 Hz ~ 120 MHz의 더 넓은 임피던스로 E4990A-120에서 회로 내 측정을 수행할 수 있습니다.
42941A
더 우수한 정확도와 20 Hz ~ 120 MHz의 더 넓은 임피던스로 E4990A-120에서 회로 내 측정을 수행할 수 있습니다.
임피던스 분석기와 함께 사용되는 42941A 임피던스 프로브 키트를 사용하면 더 우수한 정확도와 20 Hz ~ 120 MHz의 더 넓은 범위의 임피던스로 회로 내 측정(인쇄 회로 패턴, 회로의 입력/출력 임피던스 등)을 수행할 수 있습니다. 회로 내 측정으로 설계 환경에서 사이클 타임이 개선되고 생산 환경에서 재작업 비용을 줄일 수 있습니다.
키사이트 LCR 미터 및 임피던스 측정 제품 액세서리에 대해 자세히 알아보십시오
다양한 크기의 도넛형 재료에 대한 정확한 투과성을 측정합니다.
다양한 크기의 도넛형 재료에 대한 정확한 투과성을 측정합니다.
주파수:
1 kHz ~ 1 GHz
샘플 크기(토로이드에 한함):
높이: ≤ 8.5 mm
내경: ≥ 3.1 mm
외경: ≤ 20 mm
16454A는 도넛형 자성 재료의 정확한 투자율 측정을 위해 설계되었습니다. 이 고정물은 토로이드 주변으로 한 바퀴 돌아가도록 구성되어 있어(자속 노출 없음) 토로이드를 와이어로 감을 필요가 없습니다. 토로이드가 있는 경우와 없는 경우를 고려하여 인덕턴스로부터 복소 투자율이 계산됩니다. E4991A/4291B(옵션 002)가 측정 장비로 사용될 경우 복소 투자율을 직접 판독할 수 있습니다. 또한 다양한 크기에 맞게 조정할 수 있도록 크고 작은 픽스처가 제공됩니다.
대한 자세한 정보는 물성 테스트 장비 및 LCR 미터 & 임피턴스 측정 제품 액세서리를 방문하십시오.
고체 유전체 물질의 유전 상수 평가; ASTM D150을 준수합니다.
고체 유전체 물질의 유전 상수 평가; ASTM D150을 준수합니다.
주파수:
≤ 30 MHz
측정 파라미터:
커패시턴스(C), 손실 계수(D), 유전 상수(εr', εr'')
테스트 대상 물질 크기:
두께: ≤ 10 mm
직경: 10 ~ 56 mm
16451B는 고체 유전체 물질의 유전 상수를 평가하는 데 사용되며 ASTM D150을 준수합니다. 16451B는 두 전극 사이에 재료를 배치하여 커패시터를 생성하는 병렬 플레이트 방법을 사용합니다. LCR 미터 또는 임피던스 분석기는 픽스처로부터 생성된 커패시턴스를 측정하는 데 사용됩니다.
재료 테스트 장비에 대한 자세한 내용은 재료 테스트 장비를 방문하십시오.
LCR 미터 & 임피던스 측정 제품 액세서리에 대해 자세히 알아보십시오.
Measure the dielectric constant of solid materials using the parallel plate method to eliminate surface capacitance.
Measure the dielectric constant of solid materials using the parallel plate method to eliminate surface capacitance.
16453A
Measure the dielectric constant of solid materials using the parallel plate method to eliminate surface capacitance.
주파수:
1 MHz ~ 1 GHz
샘플 크기(스무드 시트에 한함):
두께: 0.3 mm ~ 3 mm
직경: ≥ 15 mm
16453A는 E4991A/4291A/B에 대해 정확한 유전율 및 탄젠트 손실 측정을 수행할 수 있도록 설계되었습니다. 두 전극 사이에 재료를 배치하여 커패시터를 생성하는 병렬 플레이트 방법을 사용합니다. E4991A/4291A/B는 고정물에서 생성된 커패시턴스를 측정하며 옵션 002 펌웨어는 16451B에 설명된 상대 복소 유전율을 계산합니다. 16451B를 사용하는 경우 병렬 전극을 보장하기 위한 조정이 필요합니다. 고정물의 전극이 유연하여 재료 표면에 따라 자동으로 조정되는 16453A에서는 이러한 조정이 필요하지 않습니다.
대한 자세한 내용은 물성 테스트 장비를 방문하십시오.
LCR 미터 & 임피던스 측정 제품 액세서리에 대해 자세히 알아보십시오.
-0.01 µF(16385A), 0.1 µF(16386A), 1 µF(16387A) 등 세 가지 정밀 커패시터로 구성됩니다.
-0.01 µF(16385A), 0.1 µF(16386A), 1 µF(16387A) 등 세 가지 정밀 커패시터로 구성됩니다.
16380C
-0.01 µF(16385A), 0.1 µF(16386A), 1 µF(16387A) 등 세 가지 정밀 커패시터로 구성됩니다.
16380C는 0.01uF(16385A), 0.1uF(16386A), 1uF(16387A) 등 세 가지 정밀 커패시터와 옵션 품목인 10uF(16388A)로 구성된 표준 커패시터 세트입니다. 이러한 커패시터는 주로 키사이트의 4단자 쌍 LCR 미터와 임피던스 분석기의 성능 테스트에 사용됩니다. 이러한 표준의 사용법은 장비 작동/서비스 매뉴얼을 참조하십시오.
계측기의 4터미널 쌍 구성을 7 mm 구성으로 전환합니다.
계측기의 4터미널 쌍 구성을 7 mm 구성으로 전환합니다.
고주파 LCR 미터 및 임피던스 분석기와 함께 이 테스트 픽스처를 작동하십시오.
고주파 LCR 미터 및 임피던스 분석기와 함께 이 테스트 픽스처를 작동하십시오.
16200B 테스트 픽스처는 고주파 LCR 미터 및 임피던스 분석기와 함께 작동하도록 설계되었습니다. 외부 DC 전류 소스를 사용하여 7mm 포트를 통해 장치에 최대 5Adc의 바이어스 전류를 공급할 수 있습니다.
키사이트 LCR 미터 및 임피던스 측정 제품 액세서리에 대해 자세히 알아보기
기존 픽스처로는 측정할 수 없는 비정형 컴포넌트를 측정할 수 있습니다
기존 픽스처로는 측정할 수 없는 비정형 컴포넌트를 측정할 수 있습니다
16089C를 사용하면 기존 픽스처로 측정할 수 없는 비정형 컴포넌트 측정이 가능합니다. 두 개의 절연 케이블 클립이 함께 제공됩니다.
기존 픽스처로는 측정할 수 없는 비정형 컴포넌트를 측정할 수 있습니다
기존 픽스처로는 측정할 수 없는 비정형 컴포넌트를 측정할 수 있습니다
16089B를 사용하면 기존 픽스처로 측정할 수 없는 비정형 컴포넌트 측정이 가능합니다. 두 개의 절연 케이블 클립이 함께 제공됩니다.
기존 픽스처로는 측정할 수 없는 비정형 컴포넌트를 측정할 수 있습니다
기존 픽스처로는 측정할 수 없는 비정형 컴포넌트를 측정할 수 있습니다
16089A를 사용하면 기존 픽스처로 측정할 수 없는 비정형 컴포넌트 측정이 가능합니다. 두 개의 절연 케이블 클립이 함께 제공됩니다.