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키사이트 41800A 액티브 프로브는 5 Hz ~ 500 MHz의 높은 입력 임피던스를 제공합니다. 키사이트 41800A는 회로 신호 분석 목적으로 네트워크 및 스펙트럼 분석기와 함께 사용하기에 유용한 도구입니다.

RF 프로브에 대한 자세한 내용은 키사이트 RF 프로브를 방문하십시오.

임피던스 분석기와 함께 사용되는 42941A 임피던스 프로브 키트를 사용하면 더 우수한 정확도와 20 Hz ~ 120 MHz의 더 넓은 범위의 임피던스로 회로 내 측정(인쇄 회로 패턴, 회로의 입력/출력 임피던스 등)을 수행할 수 있습니다. 회로 내 측정으로 설계 환경에서 사이클 타임이 개선되고 생산 환경에서 재작업 비용을 줄일 수 있습니다.

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주파수:
1 kHz ~ 1 GHz

샘플 크기(토로이드에 한함):
높이: ≤ 8.5 mm
내경: ≥ 3.1 mm
외경: ≤ 20 mm

16454A는 도넛형 자성 재료의 정확한 투과도 측정을 위해 설계되었습니다. 이 고정물은 토로이드 주변으로 한 바퀴 돌아가도록 구성되어 있어(자속 누출 없음) 토로이드를 와이어로 감을 필요가 없습니다. 토로이드가 있는 경우와 없는 경우를 고려해 인덕턴스로부터 복소 투자율이 계산됩니다. E4991A/4291B(옵션 002)가 측정 장비로 사용될 경우 복소 투자율을 직접 판독할 수 있습니다. 또한 다양한 크기에 맞게 조정할 수 있도록 크고 작은 픽스처가 제공됩니다.

대한 자세한 정보는 물성 테스트 장비 및 LCR 미터 & 임피턴스 측정 제품 액세서리를 방문하십시오.

주파수:
≤ 30 MHz

측정 파라미터:
커패시턴스(C), 손실 계수(D), 유전 상수(εr', εr'')

테스트 대상 물질 크기:
두께: ≤ 10 mm
직경: 10 ~ 56 mm

16451B는 고체 유전체 물질의 유전 상수를 평가하는 데 사용되며 ASTM D150를 준수합니다. 16451B는 두 전극 사이에 재료를 배치하여 커패시터를 생성하는 병렬 플레이트 방법을 사용합니다. LCR 미터 또는 임피던스 분석기는 픽스처로부터 생성된 커패시턴스를 측정하는 데 사용됩니다.

재료 테스트 장비에 대한 자세한 내용은 재료 테스트 장비를 방문하십시오.

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주파수:
1 MHz ~ 1 GHz

샘플 크기(스무드 시트에 한함):
두께: 0.3 mm ~ 3 mm
직경: ≥ 15 mm

16453A는 E4991A/4291A/B에 대해 정확한 유전율 및 탄젠트 손실 측정을 수행할 수 있도록 설계되었습니다. 두 전극 사이에 재료를 배치하여 커패시터를 생성하는 병렬 플레이트 방법을 사용합니다. E4991A/4291A/B는 고정물에서 생성된 커패시턴스를 측정하며 옵션 002 펌웨어는 16451B에 묘사된 상대적 복소 유전율을 계산합니다. 16451B를 사용하는 경우 병렬 전극을 보장하기 위한 조정이 필요합니다. 고정물의 전극이 유연하여 재료 표면에 따라 자동으로 조정되는 16453A에서는 이러한 조정이 필요하지 않습니다.

대한 자세한 내용은 물성 테스트 장비를 방문하십시오.

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42942A 터미널 어댑터는 임피던스 분석기 4-터미널 쌍 구성을 7 mm 터미널 구성으로 변환합니다. 따라서 임피던스 분석기와 함께 7 mm 터미널 커넥터가 있는 테스트 픽스처를 사용할 수 있습니다.
 

The 16200B test fixture is designed to operate with high frequency LCR meters and impedance analyzers. It allows you to supply a bias current across the device of up to 5Adc through a 7mm port by using an external dc current source.

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• 측정 장비: 4192A, 4194A(임피던스 모드), 4263B, 4278A, 4284A, 4285A 및 E4980A
• 주파수: 5Hz ~ 100kHz
• DC 바이어스: -42V ~ +42V
• 작동 온도: 0 ~ 55도
• 사용법: 클립으로 IC 핀 고정
• 케이블 길이: 약 1m(커넥터에서 트위저 팁까지)
• 터미널 연결: BNC, 4 터미널-쌍

16089C를 사용하면 기존 픽스처로 측정할 수 없는 비정형 콤포넌트 측정이 가능합니다. 두 개의 절연 켈빈 클립이 함께 제공됩니다.

• 측정 장비: 4192A, 4194A(임피던스 모드), 4263B, 4278A, 4284A, 4285A 및 E4980A
• 주파수: 5Hz ~ 100kHz
• DC 바이어스: -42V ~ +42V
• 작동 온도: 0 ~ 55도
• 터미널 직경: 7.9mm 이하
• 케이블 길이: 약 0.94m(커넥터에서 클립 팁까지)
• 터미널 연결: BNC, 4 터미널-쌍

16089B를 사용하면 기존 픽스처로 측정할 수 없는 비정형 콤포넌트 측정이 가능합니다. 두 개의 절연 켈빈 클립이 함께 제공됩니다.

• 측정 장비: 4192A, 4194A(임피던스 모드), 4263B, 4278A, 4284A, 4285A, E4980A
• 주파수: 5Hz ~ 100kHz
• DC 바이어스: -42V ~ +42V
• 작동 온도: 0 ~ 55도
• 터미널 직경: 15mm 이하
• 케이블 길이: 약 .0.94m(커넥터에서 클립 팁까지)
• 터미널 연결: BNC, 4 터미널-쌍

16089A를 사용하면 기존 픽스처로 측정할 수 없는 비정형 콤포넌트 측정이 가능합니다. 두 개의 절연 켈빈 클립이 함께 제공됩니다.

16048D 테스트 리드는 4-터미널 쌍 구성으로 측정 포트를 확장합니다. 사용자가 제조한 테스트 픽스처를 부착할 수 있도록 BNC 암 커넥터 보드를 제공합니다.

• SMD 테스트 픽스처 선택 표

16334A는 SMD의 임피던스 평가용으로 설계되었습니다. 평가를 위해 이 픽스처가 연결되는 최소 SMD 크기는 1.6(L) x 0.8(W) mm입니다. 이 픽스처의 트위저 접촉부를 사용하면 DUT를 쉽게 고정할 수 있습니다.

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