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디바이스 보안
결함 주입 테스트는 의도적으로 작동을 방해하여 비정상적인 조건에서 디바이스가 어떻게 작동하는지 평가합니다. 보안 팀은 전압, 클록, 전자기 또는 광학 기술을 통해 제어된 결함을 도입함으로써 공격자가 보호 우회를 허용하거나 시스템 동작을 변경할 수 있는 취약점을 찾아낼 수 있습니다. 키사이트테크놀로지스의 결함 주입 솔루션은 정밀한 계측, 자동화 소프트웨어 및 고급 타겟팅 기능을 통합하여 반복 가능한 공격 캠페인을 실행합니다. 견고성을 검증하든 심층적인 보안 분석을 수행하든, 이러한 도구를 통해 악용 가능한 결함을 식별하고 디바이스의 내성을 향상시킬 수 있습니다.
Riscure Security Solutions의 창립자인 Marc Witteman이 디바이스 보안의 기본 사항, 일반적인 공격 기술 및 업계의 향후 방향에 대해 설명하는 영상을 시청하세요.
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웨비나
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결함 주입 테스트는 정상적인 작동이 의도적으로 방해받을 때 디바이스가 어떻게 작동하는지 평가합니다. 보안 팀은 제어된 결함을 도입하여 공격자가 보호를 우회하거나 디바이스 동작을 변경할 수 있는 취약점을 식별할 수 있습니다.
결함 주입은 실제 공격에 대한 보안에 중요한 디바이스의 내성을 평가하는 데 도움이 됩니다. 조직은 배포 전에 취약점을 식별하고 구현된 보안 대응책의 효과를 강화할 수 있습니다.
일반적인 결함 주입 기술에는 전압 글리칭, 클록 글리칭, 전자기 결함 주입(EMFI), 광학 또는 레이저 결함 주입이 포함됩니다. 각 기술은 다양한 방식으로 디바이스를 대상으로 하며 다양한 공격 시나리오를 평가하는 데 사용할 수 있습니다.
결함 주입은 스마트 카드, 보안 요소, 마이크로컨트롤러, IoT 디바이스, 자동차 시스템, 산업용 제어기 및 보안 검증이 필요한 기타 임베디드 디바이스에 적용할 수 있습니다.
일반적인 결함 주입 설정에는 결함 주입 플랫폼, 동기화 및 트리거 장비, 전압, 클록, 전자기 또는 레이저 시스템과 같은 결함 주입 도구, 포지셔닝 시스템, 자동화 소프트웨어가 포함됩니다. 특정 구성은 대상 디바이스, 공격 기술 및 평가 목표에 따라 다릅니다.
결함 주입 테스트는 초기 보안 연구 및 디자인 검증부터 인증 준비 및 최종 제품 평가에 이르기까지 디바이스 개발 수명 주기 전반에 걸쳐 수행할 수 있습니다. 초기 테스트는 배포 전에 취약성을 식별하는 데 도움이 되며, 후기 테스트는 구현된 보안 대응 조치의 효과를 검증합니다.