ICTにおけるネットワークパラメータ測定の実施方法

ウェブ見積

アプリケーションノートを表示

+ インサーキット ・テスト・システム

コネクタネットワークパラメータの試験

インサーキットテスト（ICT）システムにおけるネットワークパラメータの測定では、コネクタの電気的特性を評価し、電源ピンやグランドピンの断線などの不具合を検出します。このテスト構成には、Vectorless Test Enhanced Probe（VTEP）ハードウェアを搭載したICTシステム、センサープレート、および期待される電気的挙動を定義するコネクタモデルが含まれます。正確な測定を行うには、被試験デバイスとの確実な結合を確保するために、センサープレートの適切な位置合わせ、サイズ設定、および取り付けを含む、入念なフィクスチャ設計が必要です。

測定ワークフローは、標準的な信号ピンの検証から始まり、続いて事前定義されたコネクタモデルを用いて電源ピンおよびグランドピンのネットワークパラメータ測定が行われます。リーク経路を最小限に抑え、測定精度を向上させるために、ガード技術が適用されます。システムは、測定された応答を想定されるネットワークパラメータと比較し、故障に起因する偏差を特定します。自動デバッグや制御された故障挿入などのデバッグプロセスにより、テストカバレッジを検証し、測定性能を最適化します。

ネットワークパラメータ測定用ICTソリューション

ネットワークパラメータの測定では、複雑な相互接続構造における不具合を検出するために、精密な治具設計、適切な保護措置、およびコネクタの挙動の正確なモデリングが必要となります。このソリューションでは、ベクトルレス試験機能を備えたICTシステムを用いて、コネクタの電気的特性を測定し、電源ピンおよびグランドピンの断線状態を特定します。

このシステムには、測定感度を向上させ、ノイズを低減するためのセンサープレート、強化されたシールド機能、およびコネクタモデルが組み込まれています。強化されたシールド機能により、測定経路のインピーダンスが低減され、複雑な接地構造を持つデバイスの試験時の精度が向上します。本ソリューションは、Peripheral Component Interconnect (PCI) Express、Double Data Rate (DDR)、Serial Advanced Technology Attachment (SATA) など、幅広いコネクタタイプに対応しており、従来の試験方法では特定が困難な不具合を確実に検出することができます。自動デバッグや正常基板の検証といった統合されたデバッグツールにより、試験の堅牢性とカバレッジがさらに向上します。

ウェブ見積