ICTにおけるネットワークパラメータ測定の実施方法

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+ インサーキットテストシステム

コネクタネットワークパラメータテスト

インサーキットテスト（ICT）システムにおけるネットワークパラメータ測定は、電源ピンおよびグランドピンのオープンなどの故障を検出するために、コネクタの電気的特性を評価するものです。テストセットアップには、ベクトルレス・テスト・エンハンスド・プローブ（VTEP）ハードウェア、センサープレート、および期待される電気的動作を定義するコネクタモデルを搭載したICTシステムが含まれます。正確な測定には、被試験デバイスとの確実な結合を保証するために、適切なセンサープレートの位置合わせ、サイズ決定、および取り付けを含む、慎重なフィクスチャ設計が必要です。

測定ワークフローは、標準的な信号ピン検証から始まり、続いて事前定義されたコネクタモデルを使用して電源ピンおよびグランドピンでのネットワークパラメータ測定が行われます。リークパスを最小限に抑え、測定精度を向上させるために、ガーディング技術が適用されます。システムは、測定された応答を期待されるネットワークパラメータと比較し、故障によって引き起こされる偏差を特定します。テストカバレッジを検証し、測定性能を最適化するために、自動デバッグや制御された故障挿入などのデバッグプロセスが使用されます。

ネットワークパラメータ測定用ICTソリューション

ネットワークパラメータ測定には、複雑な相互接続構造における故障を検出するために、精密なフィクスチャ設計、適切なガーディング、およびコネクタ動作の正確なモデリングが必要です。このソリューションは、ベクトルレス・テスト機能を備えたICTシステムを使用し、コネクタの電気的特性を測定して、電源ピンおよびグランドピンのオープン状態を特定します。

このシステムは、測定感度を向上させ、ノイズを低減するために、センサープレート、強化されたガーディング機能、およびコネクタモデルを組み込んでいます。強化されたガーディングは、測定パスのインピーダンスを低減し、複雑な接地構造を持つデバイスをテストする際の精度を向上させます。このソリューションは、Peripheral Component Interconnect (PCI) Express、Double Data Rate (DDR)、Serial Advanced Technology Attachment (SATA) など、幅広いコネクタタイプをサポートしており、従来のテスト方法では特定が困難な故障を確実に検出できます。自動デバッグや既知の良品ボード検証などの統合デバッグツールは、テストの堅牢性とカバレッジをさらに向上させます。

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