Comment effectuer des mesures des paramètres réseau dans le domaine des TIC
Tests des paramètres du réseau de connecteurs
La mesure des paramètres de réseau dans les systèmes de test en circuit (ICT) consiste à évaluer les caractéristiques électriques des connecteurs afin de détecter des défauts tels que des coupures sur les broches d’alimentation et de masse. Le dispositif de test comprend un système ICT équipé d’un matériel VTEP (Vectorless Test Enhanced Probe), de plaques de capteurs et de modèles de connecteurs qui définissent le comportement électrique attendu. Pour obtenir des mesures précises, il est nécessaire de concevoir soigneusement le dispositif de fixation, notamment en veillant à l'alignement, au dimensionnement et au montage corrects des plaques de capteurs, afin de garantir un couplage fiable avec le dispositif sous test.
Le processus de mesure commence par une validation standard des broches de signal, suivie d'une mesure des paramètres de réseau sur les broches d'alimentation et de masse à l'aide de modèles de connecteurs prédéfinis. Des techniques de protection sont mises en œuvre pour minimiser les chemins de fuite et améliorer la précision des mesures. Le système compare les réponses mesurées aux paramètres de réseau attendus afin d'identifier les écarts dus à des défauts. Des processus de débogage, tels que le débogage automatique et l'insertion contrôlée de défauts, sont utilisés pour valider la couverture des tests et optimiser les performances de mesure.
Solution TIC pour la mesure des paramètres réseau
La mesure des paramètres de réseau nécessite une conception précise des montages d'essai, des dispositifs de protection adaptés et une modélisation exacte du comportement des connecteurs afin de détecter les défauts dans les structures d'interconnexion complexes. Cette solution utilise un système ICT doté de capacités de test sans vecteur pour mesurer les caractéristiques électriques des connecteurs et identifier les coupures au niveau des broches d'alimentation et de masse.
Le système intègre des plaques de détection, des fonctions de protection améliorées et différents modèles de connecteurs afin d’améliorer la sensibilité des mesures et de réduire le bruit. La protection améliorée réduit l’impédance dans le circuit de mesure, ce qui améliore la précision lors des tests sur des appareils dotés de structures de mise à la terre complexes. Cette solution prend en charge une large gamme de types de connecteurs, notamment les normes PCI Express (Peripheral Component Interconnect), DDR (Double Data Rate) et SATA (Serial Advanced Attachment), et permet une détection fiable des défauts difficiles à identifier à l'aide des méthodes de test traditionnelles. Des outils de débogage intégrés, tels que le débogage automatique et la validation des cartes de référence, améliorent encore la robustesse et la couverture des tests.
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E9986E Système de test en circuit à quatre modules en ligne, série i367x 5i
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