アンプのスルーレートを測定する方法

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高性能卓上型波形・関数発生器
+ Advanced ベンチトップ波形／ファンクションジェネレーター
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アンプの応答から刺激の限界を分離する

アンプが高速で大振幅の電圧ステップによって駆動される場合、その出力は入力エッジに即座に追従しないことがあります。代わりに、アンプのスルーレート限界によって決まる、ほぼ一定の最大傾斜で出力が遷移する場合があります。測定上の課題は、この大振幅の挙動を、エッジレートの制限、ローディング、プロービングの影響、またはテストセットアップにおける不十分なオシロスコープの帯域幅から区別することです。

このテストでは、期待されるアンプの応答よりも高速な遷移を持つ矩形波ソース、十分な高速性を持つオシロスコープ、および入出力での低容量プロービングが必要です。低い繰り返しレートにより、次のエッジの前に各遷移を整定させることができます。スルーレートは、電圧の変化量を時間の変化量で割った値として、各出力遷移の線形部分から計算され、立ち上がりエッジと立ち下がりエッジは個別に評価されます。

アンプのスルーレート測定ソリューション

測定された入力遷移が期待される出力遷移よりも速い低周波矩形波でアンプを駆動し、オシロスコープが入力と時間を同時に捉えながらテストを実行します。高度なベンチトップ波形・ファンクションジェネレータは、ポイント・バイ・ポイントの任意波形生成機能を備えた、再現性のある30 MHzの2チャネル刺激ソースを提供します。振幅、オフセット、ソース終端、および繰り返しレートを設定して、アンプを意図された大振幅動作領域に配置し、エッジ間の完全な整定を可能にします。各出力遷移の線形部分を測定し、正および負のスルーレートを $\Delta$V/$\Delta$tとして計算し、ソースエッジ、プローブ、およびオシロスコープの帯域幅が結果を制限しないことを確認します。
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