앰프 슬루 레이트 측정 방법

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증폭기 응답에서 스티뮬러스 제한 분리

증폭기가 빠르고 신호가 큰 전압 스텝에 의해 구동되는 경우, 그 출력은 입력 에지를 즉시 따르지 않을 수 있습니다. 대신 출력은 증폭기의 슬루 레이트 제한에 의해 결정되는 거의 일정한 최대 기울기로 천이할 수 있습니다. 측정의 과제는 이 대신호 거동을 에지 레이트 제한, 로딩, 프로빙 효과 또는 테스트 설정의 불충분한 오실로스코프 대역폭과 구분하는 것입니다.

이 테스트에는 예상되는 증폭기 응답보다 빠른 천이 속도를 가진 구형파 소스, 충분히 빠른 오실로스코프, 그리고 입력 및 출력에서의 저정전용량 프로빙이 필요합니다. 낮은 반복률을 사용하면 다음 에지가 오기 전에 각 천이가 안정화될 수 있습니다. 슬루 레이트는 각 출력 천이의 선형 부분에서 전압 변화량을 시간 변화량으로 나누어 계산하며, 상승 및 하강 에지를 개별적으로 평가합니다.

증폭기 슬루 레이트 측정 솔루션

측정된 입력 전환 속도가 예상 출력 전환 속도보다 빠른 저주파 구형파로 증폭기를 구동하여 테스트를 수행하는 동안 오실로스코프가 입력과 출력을 동시에 캡처합니다. 고급 벤치탑 파형 및 함수 생성기는 포인트 방식 임의 파형 생성을 통해 반복 가능한 30 MHz, 2채널 자극 소스를 제공합니다. 진폭, 오프셋, 소스 종단 및 반복 속도를 구성하여 증폭기를 의도된 대신호 작동 영역에 배치하고 에지 간에 완전한 정착이 이루어지도록 합니다. 각 출력 전환의 선형 부분을 측정하고 양 및 음의 슬루율을 ΔV/Δt로 계산하며 소스 에지, 프로브 및 오실로스코프 대역폭이 결과를 제한하지 않는지 확인합니다.
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