Como aumentar a densidade de RF nos testes automatizados

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Aumentar a densidade de geração de sinais

Os testes automatizados de radiofrequência (RF) utilizam múltiplos canais de fonte para estimular as entradas do receptor, acionar os caminhos do oscilador local (LO) e testar cadeias de sinal paralelas. Os engenheiros definem o número de canais necessários, as frequências portadoras, os níveis de saída, os formatos de sinal e as relações de temporização para cada caminho. Um gerador de sinal de RF multicanal pode fornecer sinais programados independentemente dentro de um gabinete de instrumento compartilhado. Fontes analógicas fornecem onda contínua (CW) e outras configurações de estímulo analógico suportadas; uma fonte vetorial multicanal fornece sinais modulados digitalmente onde o plano de teste assim o exigir. A configuração de teste conecta as saídas da fonte a um dispositivo em teste (DUT), utilizando cabeamento adequado, chaves, atenuação e instrumentos de medição. Os engenheiros estabelecem um mapa de canais e confirmam se a configuração do instrumento escolhida atende aos limites de frequência e potência exigidos. Os modelos analógicos representam diferentes níveis de desempenho, com capacidades específicas determinadas a partir de suas respectivas fichas técnicas.

O controlador de teste automatizado configura a frequência, a potência e as configurações de modulação ou disparo suportadas por cada canal. As sequências de teste aplicam estados de fonte aos caminhos atribuídos ao DUT e capturam as medições resultantes do receptor ou do estágio de conversão. Quando as relações de fase são importantes, os engenheiros configuram referências e métodos de sincronização adequados e verificam as opções aplicáveis do instrumento. As transições de frequência e potência são programadas levando em consideração a correção automática de nível (ALC), o supressão de saída, o comportamento de estabilização e o tempo de disparo. Para medições de onda contínua, as configurações de nivelamento podem priorizar a precisão da saída; para mudanças rápidas de estado, os engenheiros avaliam os modos de comutação relevantes e as compensações necessárias. Canais separados podem fornecer diferentes frequências de oscilador local ou estímulos simultâneos ao receptor, dependendo da arquitetura de teste. As respostas medidas são associadas aos estados da fonte programados para comparação posterior. A configuração final depende do número de sinais necessários, do modelo de gerador selecionado e da interface do DUT.

Solução compacta para geração de sinais de RF multicanal

O aumento da densidade de geração de sinais de RF requer saídas de RF configuráveis de forma independente, cobertura adequada de frequência e potência, além de transições controladas durante sequências automatizadas. O Keysight AP5012A oferece até quatro canais analógicos de RF em um gabinete de 1U, com opções de frequência que chegam a 40 GHz. O AP5022A suporta de um a quatro canais analógicos em um gabinete de 2U, com opções que vão de 9 kHz até 54 GHz. O AP5032A oferece de um a quatro canais analógicos em um gabinete de 2U, com opções de frequência de 1 kHz até 51 GHz; a opção de 90 GHz se aplica ao AP5031A de canal único, e não ao AP5032A. O AP5042A oferece de um a quatro canais vetoriais com coerência de fase em um gabinete de 2U, com opções de frequência de até 40 GHz e largura de banda nominal máxima de RF I/Q de 400 MHz. O controle remoto via LAN e USB, além da programação SCPI compatível, integram as fontes aos testes automatizados de RF. Os engenheiros escolhem entre esses modelos com base no formato do estímulo, no número de canais, na faixa de frequência, na sincronização e na capacidade do rack.
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Veja o diagrama de blocos da solução compacta de geração de sinais de RF multicanal

Diagrama de blocos mostrando os geradores de sinal Keysight AP5012A, AP5022A, AP5032A e AP5042A em um sistema automatizado de testes de RF

Conheça os produtos da nossa solução compacta de geração de sinais de RF multicanal

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