자동화 테스트에서 RF 밀도를 높이는 방법

+ 소형 다중 채널 RF 신호 발생기

신호 생성 밀도 향상

자동화된 무선 주파수(RF) 테스트는 여러 소스 채널을 사용하여 수신기 입력을 자극하고, 국부 발진기(LO) 경로를 구동하며, 병렬 신호 체인을 테스트합니다. 엔지니어는 각 경로에 대해 필요한 채널 수, 반송파 주파수, 출력 레벨, 신호 형식 및 타이밍 관계를 정의합니다. 다중 채널 RF 신호 발생기는 공유된 계측기 인클로저 내에서 독립적으로 프로그래밍된 신호를 공급할 수 있습니다. 아날로그 소스는 연속파(CW) 및 기타 지원되는 아날로그 자극 구성을 제공하며, 다중 채널 벡터 소스는 테스트 계획에 필요한 경우 디지털 변조 신호를 제공합니다. 테스트 설정에서는 적절한 케이블, 스위치, 감쇠기 및 측정 기기를 사용하여 소스 출력을 피시험 장치(DUT)에 연결합니다. 엔지니어는 채널 맵을 수립하고, 선택한 기기 구성이 요구되는 주파수 및 전력 한계를 충족하는지 확인합니다. 아날로그 모델은 서로 다른 성능 등급을 나타내며, 구체적인 성능은 각 데이터 시트에서 확인할 수 있습니다.

자동화 테스트 컨트롤러는 각 채널의 주파수, 전력, 지원되는 변조 방식 또는 트리거 설정을 구성합니다. 테스트 시퀀스는 할당된 DUT 경로에 소스 상태를 적용하고, 그 결과로 얻어지는 수신기 또는 변환 단계 측정값을 캡처합니다. 위상 관계가 중요한 경우, 엔지니어는 적절한 기준 신호와 동기화 방법을 구성하고 해당 계측기 옵션을 확인합니다. 주파수 및 전력 전환은 자동 레벨 보정(ALC), 출력 블랭킹, 정착 거동 및 트리거 타이밍을 고려하여 계획됩니다. 연속파 측정의 경우, 레벨링 설정을 통해 출력 정확도를 우선시할 수 있으며, 급격한 상태 변화의 경우 엔지니어는 관련 스위칭 모드와 상충 관계를 평가합니다. 테스트 아키텍처에 따라 별도의 채널이 서로 다른 국부 발진기 주파수를 제공하거나 수신기 자극 신호를 동시에 전달할 수 있습니다. 측정된 응답은 후속 비교를 위해 프로그래밍된 소스 상태와 연관됩니다. 최종 구성은 필요한 신호의 수, 선택된 발생기 모델 및 DUT 인터페이스에 따라 달라집니다.

소형 다중 채널 RF 신호 발생 솔루션

RF 신호 생성 밀도를 높이려면 독립적으로 구성 가능한 RF 출력, 적절한 주파수 및 전력 범위, 그리고 자동화 시퀀스 중 제어된 전환이 필요합니다. 키사이트 AP5012A는 1U 섀시에 최대 4개의 아날로그 RF 채널을 제공하며, 주파수 범위는 40 GHz까지 지원합니다. AP5022A는 2U 섀시에 1~4개의 아날로그 채널을 지원하며, 주파수 범위는 9 kHz부터 54 GHz까지입니다. AP5032A는 2U 섀시에서 1~4개의 아날로그 채널을 제공하며, 주파수 범위는 1 kHz에서 51 GHz까지입니다. 90 GHz 옵션은 AP5032A가 아닌 단일 채널 AP5031A에 적용됩니다. AP5042A는 2U 섀시에서 1~4개의 위상 일관성 벡터 채널을 제공하며, 주파수 범위는 최대 40 GHz이고 공칭 최대 RF I/Q 대역폭은 400 MHz입니다. LAN 및 USB 원격 제어와 지원되는 SCPI 프로그래밍을 통해 이 소스들을 자동화된 RF 테스트에 통합할 수 있습니다. 엔지니어들은 자극 신호 형식, 채널 수, 주파수 범위, 동기화 및 랙 수용 능력을 기준으로 이러한 모델 중에서 선택합니다.

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