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光子元件分析儀
精密儀器 光學特性表徵與分析
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相干傳輸測試
用於驗證複雜調製光收發器的相干測試解決方案
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光子測試元件
適用於可擴展、自動化光學驗證的光子測試工具
光子元件分析儀
是德科技光子元件分析儀涵蓋XP1、XP2、XP3、XP4、XP5及XP6系列，可對各類光學元件與系統進行全面的複雜特性分析與驗證。這些解決方案專為實現精準度、準確性與靈活性而設計，助您深入解析光學性能關鍵指標，確保設計符合當今嚴苛要求。探索我們豐富的光子元件分析儀產品線，為您的應用找到最合適的解決方案。
相干傳輸測試
是德科技的相干傳輸測試產品包含XP7級光調變分析儀及模組化選項，可協助您對長距離光傳輸器進行特性分析，並驗證高速資料中心 使用的相干收發器與系統。透過高保真度測量調變光訊號，分析誤差向量幅度(EVM)、Q因子及相位誤差等性能指標，確保符合產業標準。 提供多元解決方案選擇，包含基於旗艦 示波器 旗艦 示波器的高頻分析儀，以及具備多種頻寬與通道配置的模組化相干傳輸測試方案，可滿足各類應用需求。探索我們廣泛的產品組合，為您的開發、驗證或製造測試需求找到最適配的配置方案。
光子測試元件
是德科技光子測試元件專為協助您開發可靠、高效且可擴展的測試系統而設計，適用於廣泛的光學應用領域。無論您正在開發新一代元件或驗證複雜網路，我們全面的產品組合皆能支援各階段的精準高效能測試。探索我們豐富的光子測試元件系列，助您構建滿足當前及未來需求的理想光學測試環境。
今日驗證明日的光學鏈路。
是德科技全新推出的光學參考發射器（ORT）為測試新一代數據傳輸技術（包括1.6T及更高規格）樹立了新標竿。此設備專為實現業界頂尖的訊號完整性與精準度而設計，能精確且可重複地驗證高速光收發器與元件的性能。 憑藉對尖端調變格式的支援能力，以及與現有測試系統的無縫整合，此設備成為研發團隊突破光通訊極限的理想解決方案。
尋找適用於光子學與光學測試的相容軟體及配件
從廣泛的測試與量測解決方案中進行選擇，以加速新一代智能光纖網路的發展進程，包括自動化與分析軟體，以及線纜與連接器等配件。
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
人工智慧工作負載的快速增長正推動著頻寬的巨大提升與低延遲傳輸的需求，同時促使800G/1.6T乙太網路及CPO（共封裝光學元件）等技術的廣泛採用。這反過來又驅動了對更高頻率光子元件與收發器的需求。
光學測試正不斷演進，以驗證更高階的調變格式、密集的波分復用通道及更嚴苛的訊號完整性要求。測試解決方案必須透過自動化與精準度實現擴展，方能配合超大規模部署的時程進度。
完整的光學或光子測試裝置通常包含：
- 光功率計用於測量光強度。
- 光衰減器用於控制訊號強度。
- 光學開關用於在通道間路由訊號。
- 可調諧雷射器與波長計，用於光源校準與光譜分析。
- 光波元件分析儀，用於表徵光學元件的S參數。
這些工具共同實現了在研發與製造環境中對光學元件的精確控制與特性分析。選擇合適的組合取決於您的應用場景——無論是被動元件驗證、主動調製器測試，還是光積體電路（PIC）開發。
首先需定義待測裝置、性能要求及開發階段（無論是研發、驗證或製造）。這些因素將協助您確定適合需求的各類光子測試設備類型。
相干傳輸測試
若您正在研發進階高速光收發器或相干系統，特別是在長途傳輸、都會區網路或人工資料中心 請選用此方案。當您需要產生並分析複雜調變訊號、驗證EVM或Q因子等性能指標，或確保符合相干光學標準時，請選擇相干測試解決方案。
光子元件分析儀
此類別包含可調諧雷射器、波長計、光回波損耗計、基準發射器及其他用於表徵個別光學元件的工具。當您處於研發或驗證階段，需對離散光子元件進行特性分析、解析光譜行為、回波損耗或偏振效應時，或需要基於標準的光學訊號產生時，這些工具至關重要。
光子測試元件
光功率計、衰減器與光開關有助於構建可重複、可擴展且自動化的研發或製造測試系統。這些工具是管理訊號強度、模擬真實環境條件，或在實驗室與生產環境中高效路由訊號基礎 。當您需要快速校準的光功率測量、模擬系統中的訊號衰減等網路狀態，或建置高吞吐量的自動化製造測試系統時，即可運用這些設備。
高速光通訊（如800G與1.6T乙太網路）通常仰賴相干傳輸技術。測試此類系統需使用能產生、擷取及分析調製光訊號儀器 。
關鍵工具包括：
- 光學參考發射器提供理想的訊號源。
- 相干接收器與示波器 相位、振幅及訊號完整性。
- 偏振與色散分析儀用於評估損耗。
這些配置對於確保長距離鏈路或超大規模資料中心內的訊號保真度至關重要。
光子元件分析儀（例如光波元件分析儀） 可為被動與主動光學元件提供精確的S參數特性分析。 此外，可調諧雷射器與波長計能執行詳細的波長依賴性測試與雷射校準， 基礎 高速光子積體電路（PIC）及次世代光學模組基礎 。