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光子元件分析儀
用於光學特性分析的精密儀器
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同調傳輸測試
用於驗證複雜調變光收發器的同調測試解決方案
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光子測試零件
用於可擴充、自動化光學驗證的光子測試工具
光子元件分析儀
Keysight 光子元件分析儀包括 XP1 級、XP2 級、XP3 級、XP4 級、XP5 級和 XP6 級。它們支援各種光學元件和系統的複雜特性分析和驗證。這些解決方案專為精確度、準確性和彈性而設計，可協助您深入瞭解光學性能，確保您的設計符合當今嚴苛的要求。探索我們廣泛的光子元件分析儀系列，找到適合您應用的產品。
同調傳輸測試
Keysight 同調傳輸測試產品包括 XP7 級光調變分析儀和模組化選項。它們可協助您檢定長距離光發射器，並驗證用於高速資料中心網路的同調收發器和系統。量測高傳真度的調變光信號，以分析錯誤向量幅度 (EVM)、Q 因子和相位誤差等性能指標，確保符合業界標準。Keysight 提供多種解決方案供您選擇，包括基於我們旗艦桌上型示波器的高頻分析儀，以及模組化同調傳輸測試解決方案，這些解決方案提供各種頻寬和通道配置，以滿足您的應用需求。探索我們廣泛的產品組合，為您的開發、驗證或製造測試需求找到合適的配置。
光子測試零件
Keysight 光子測試零件旨在協助您開發適用於各種光學應用的可靠、高效且可擴充的測試系統。無論您是開發下一代元件還是驗證複雜網路，我們全面的產品組合都能在每個階段支援精確、高效能的測試。探索我們廣泛的光子測試零件系列，以建立符合您當前和未來需求的光學測試環境。
今日驗證未來的光學鏈路。
Keysight 的全新光學參考發射器 (ORT) 為測試新一代資料傳輸技術（包括 1.6T 及更高頻寬）樹立了新標準。ORT 旨在提供業界領先的訊號完整性和精準度，能夠準確且可重複地驗證高速光收發器和元件。憑藉對尖端調變格式的支援以及與現有測試設定的無縫整合，它是推動光通訊技術發展的研發團隊的理想解決方案。
尋找適用於光子和光學測試的相容軟體與配件
從廣泛的量測解決方案中選擇，以加速下一代智慧光學網路的進展，包括自動化和分析軟體，或纜線和連接器等配件。
服務與支援
透過精選支援方案以及優先回應與周轉時間，加速創新。
取得可預測的租賃式訂閱和完整的生命週期管理解決方案，讓您更快達成業務目標。
成為 KeysightCare 訂閱者，體驗更優質的服務，獲得承諾的技術回應及更多。
確保您的測試系統符合規格要求，並符合當地與全球標準。
透過內部講師指導的訓練和線上學習，快速進行量測。
下載 Keysight 軟體，或將您的軟體更新至最新版本。
常見問題
AI 工作負載的快速增長，正在推動頻寬和低延遲傳輸的大幅增長，以及 800G/1.6T 乙太網路和 CPO (共同封裝光學元件) 等技術的採用。這反過來又推動了對更高頻率光子學和收發器的需求。
光學測試正在不斷演進，以驗證更高階的調變格式、密集波長多工 (WDM) 通道，以及更嚴格的訊號完整性要求。測試解決方案必須具備自動化和精確度，才能擴展以跟上超大規模部署的時程。
完整的光學或光子測試設定通常包括：
- 光功率計用於量測光強度。
- 光學衰減器用於控制訊號強度。
- 用於跨通道路由訊號的光學開關。
- 用於光源校準和頻譜分析的可調諧雷射和波長計。
- 用於特性分析光學元件 S 參數的光波元件分析儀。
這些工具共同實現了在研發和製造環境中對光學元件的精確控制和特性分析。選擇正確的組合取決於您的應用，無論是被動元件驗證、主動調變器測試還是 PIC 開發。
首先定義您的待測裝置、性能要求以及開發階段（無論是研發、驗證或製造）。這些因素將有助於您確定適合您需求的光子測試設備類型。
同調傳輸測試
如果您從事先進高速光收發器或同調系統的研發工作，尤其是在長距離、都會區或 AI 資料中心應用中，請使用此解決方案。當您需要產生並分析複雜調變訊號、驗證 EVM 或 Q 因子等性能指標，或確保符合同調光學標準時，請選擇同調測試解決方案。
光子元件分析儀
此類別包括可調諧雷射、波長計、光學回波損耗計、參考發射器以及其他用於特性分析個別光學元件的工具。當您處於研發或驗證階段，致力於特性分析離散光子元件、分析頻譜行為、回波損耗或偏振效應，或者需要基於標準的光學訊號產生時，這些工具都至關重要。
光子測試零件
光功率計、衰減器和開關有助於建立可重複、可擴展和自動化的研發或製造測試設定。這些工具對於在實驗室或生產環境中管理訊號位準、模擬真實世界條件或有效路由訊號至關重要。當您需要快速、校準的光功率量測、需要模擬系統中的訊號損耗等網路條件，或者需要建立高吞吐量、自動化的製造測試系統時，請使用這些工具。
高速光通訊 (例如 800G 和 1.6T 乙太網路) 通常依賴於同調傳輸技術。測試這些系統需要能夠產生、擷取和分析調變光訊號的儀器。
主要工具包括：
- 光參考發射器提供理想的訊號源。
- 同調接收器和取樣示波器可分析相位、振幅和訊號完整性。
- 偏振和色散分析儀可評估損耗。
這些設置對於確保長距離鏈路或超大規模資料中心內的訊號保真度至關重要。
光子元件分析儀，例如光波元件分析儀，可為被動與主動式光學裝置提供精密的 S 參數特性分析。此外，可調式雷射與波長計可實現詳細的波長相關測試和雷射校準，這對於驗證高速光子積體電路 (PIC) 和下一代光學模組至關重要。