如何量測變頻器的相位雜訊

微波網路分析儀
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使用 VNA 和直接數位合成器信號源來量測相位雜訊

測試 5G 和衛星應用的變頻器時,需要擷取許多不同的參數,包括增益、相位、延遲、互調失真(IMD)、增益壓縮和雜訊指數。 相位雜訊量測頗具挑戰性,因為它受限於內部架構、振盪器類型、內部和外部參考頻率,以及內建功能等因素。 同時還須檢測輸出相位雜訊的來源。

如需量測相位雜訊,請使用向量網路分析儀(VNA)和直接數位合成器(DDS)信號源,以確定裝置輸出端的相位雜訊到底是來自裝置本身,還是來自輸入信號。 您可在測試配置中再添加第三個信號源,作為待測裝置(DUT)的本地信號源,以便在不使用外部信號產生器的情況下,執行雙音頻或兩階段變頻器量測。 第三個信號源也可當作需要外部參考時脈信號之 DUT 的參考信號,或是作為其他量測儀器的參考信號。

PNA-X 相位雜訊量測解決方案

PNA-X 相位雜訊量測解決方案

分析相位雜訊時,需擷取許多關鍵參數,例如增益和雜訊指數。 Keysight PNA-X 相位雜訊量測解決方案以直接數位合成(DDS)作為信號源,讓相位雜訊量測作業變得更穩定,同時還可大幅提升量測效能。 該解決方案基於 Keysight PNA-X 微波網路分析儀,可量測放大器、混頻器和變頻器等主動元件。

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