如何量測變頻器的相位雜訊

+ 微波網路分析儀

使用 VNA 和直接數位合成器信號源來量測相位雜訊

測試 5G 和衛星應用的變頻器時，需要擷取許多不同的參數，包括增益、相位、延遲、互調失真（IMD）、增益壓縮和雜訊指數。相位雜訊量測頗具挑戰性，因為它受限於內部架構、振盪器類型、內部和外部參考頻率，以及內建功能等因素。同時還須檢測輸出相位雜訊的來源。

如需量測相位雜訊，請使用向量網路分析儀（VNA）和直接數位合成器（DDS）信號源，以確定裝置輸出端的相位雜訊到底是來自裝置本身，還是來自輸入信號。您可在測試配置中再添加第三個信號源，作為待測裝置（DUT）的本地信號源，以便在不使用外部信號產生器的情況下，執行雙音頻或兩階段變頻器量測。第三個信號源也可當作需要外部參考時脈信號之 DUT 的參考信號，或是作為其他量測儀器的參考信號。

PNA-X 相位雜訊量測解決方案

分析相位雜訊時，需擷取許多關鍵參數，例如增益和雜訊指數。 Keysight PNA-X 相位雜訊量測解決方案以直接數位合成（DDS）作為信號源，讓相位雜訊量測作業變得更穩定，同時還可大幅提升量測效能。該解決方案基於 Keysight PNA-X 微波網路分析儀，可量測放大器、混頻器和變頻器等主動元件。

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