如何測量變頻器相位噪聲

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使用搭配直接數位合成器訊號源的 VNA 量測相位雜訊

測試用於 5G 和衛星應用的頻率轉換器需要擷取多種不同參數，包括增益、相位、延遲、互調失真（IMD）、增益壓縮和雜訊指數。相位雜訊的量測極具挑戰性，因為它取決於內部架構、振盪器類型、內部和外部頻率參考以及內建功能的影響等因素。還必須檢測輸出相位雜訊的來源。

若要測量相位雜訊，請使用帶有直接數位合成器 (DDS) 訊號源的向量網路分析儀 (VNA)，以判斷裝置輸出端的相位雜訊是來自裝置本身還是輸入訊號。在測試設定中新增第三個訊號源，作為待測裝置 (DUT) 的本地訊號源，以便在無需外部訊號產生器的情況下進行雙音或兩級頻率轉換器測量。第三個訊號源也可以作為需要外部參考時脈訊號的 DUT 的參考訊號，或作為另一個測量儀器的參考訊號。

PNA-X 相位雜訊量測解決方案

檢定相位雜訊需要擷取增益和雜訊指數等許多關鍵參數。Keysight PNA-X 相位雜訊量測解決方案以直接數位合成 (DDS) 作為訊號源，可使相位雜訊量測更穩定，同時提供更佳的量測效能。此解決方案以 Keysight PNA-X 微波網路分析儀為基礎，可量測放大器、混頻器和頻率轉換器等主動元件。
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