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可全面滿足需求的相位雜訊分析儀和測試儀

是德科技提供專用的相位雜訊分析儀系統，可簡化相位雜訊測量並大幅提高效率。 奠基於 35 年的低相位雜訊、射頻設計和測量經驗，是德科技創新的相位雜訊測試儀提供最準確的資料，經濟實惠，可滿足您現在和未來的需求。

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探索是德科技全系列相位雜訊測量儀器

是德科技訊號源分析儀系列產品備有一應俱全的機型，無論您是需要像 SSA-X 系列這樣的全方位解決方案，還是需要 PN3 系列的高效能輕巧選項，我們都能滿足您的特殊需求。 您可任選最適合的選項，以便運用不可或缺的高效率測量功能，以及超低的相位雜訊靈敏度，獲得所需的準確度和精密度。

Keysight SSA-X 系列提供多合一解決方案，適用於相位雜訊和訊號源分析。 Keysight PN3 輕巧型系列重量僅 10 kg，但具有高功率和低相位雜訊靈敏度。 這兩個系列均提供靈活的測量設定，並與內建的軟體或韌體相容，可簡化配置。 請即聯絡是德科技專家，以便盡快找到最切合您需求的最佳選項。

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E5045A PN3 Signal Source Analyzer star right view

更有效的相位雜訊測量方法

SSA-X 系列訊號源分析儀具有無與倫比的功能，是工程師轉移至新一代儀器的最佳選擇。 SSA-X 不僅可測量超低相位雜訊和高達 54 GHz 的殘餘雜訊，同時還可縮短測量時間。 如搭配使用外部降頻器，它甚至可測量超過 54 GHz 的頻率，以支援 6G 和汽車等毫米波應用。 進一步獲得 E5055A、E5056A、E5057A 和 E5058A 的產品詳細資訊。

保障您的創新投資

KeysightCare 支援服務

極大限度地延長您的正常運行時間，優化您的量測，並在最快的時間內得到您所需要的答案。

校驗服務

為了讓您的測試設備獲得最佳效能，您可每 6、12、24 或 36 個月對是德科技和其他廠牌的測試設備進行校驗

技術更新服務

按照您的時間表和預算要求，擴充、升級或轉移到新型測試設備

測量相位雜訊

降低振盪器、合成器、放大器和其他電子元件的相位雜訊，有助於提高數位通訊系統的傳輸速率，以及使用這些元件之雷達系統的靈敏度。 為了設計具更低相位雜訊的卓越元件和系統，我們需要測量系統中的雜訊。 目前有幾種儀器可以做到這一點。在此影片中，我們將展示可用於測量相位雜訊的三種不同儀器。 我們將世界一流的超低相位雜訊 VXG 向量訊號產生器，與 SSA-X、PNTS 和 UXR 搭配使用，以進行精準的分析。 此外，我們還將說明為什麼相位雜訊是評估訊號產生器效能優劣的重要指標。

VXG Phase Noise: Measure VXG Phase Noise with SSA-X, PNTS and UXR

VXG 相位雜訊圖像

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