嵌入式安全測試平台

進階旁通道分析,用於嵌入式裝置安全性


Keysight Inspector SC4 旁通道分析系統提供全面的工具,用於評估嵌入式裝置、晶片和智慧卡的安全性。結合高解析度資料擷取和先進的密碼分析功能,可透過功率和電磁輻射精確偵測漏洞。該系統支援多種攻擊向量,包括差分功率分析 (DPA) 和電磁分析 (EMA),為評估裝置彈性提供了一個強大的平台。其模組化設計允許使用者根據特定的安全要求客製化測試方法,確保徹底評估並增強對潛在威脅的防護。立即申請旁通道分析報價。想進一步瞭解此解決方案?請瀏覽以下資源。

高解析度擷取

以卓越的準確度擷取精確的功率和電磁訊號,揭示細微的裝置行為和側通道漏洞。

進階密碼分析

支援差分功率分析 (DPA)、相關功率分析 (CPA) 和其他攻擊,能夠徹底評估加密實作。

自動化攻擊工作流程

透過軟體控制的序列簡化重複的測試流程,提升多個裝置的效率、重複性和一致性。

可自訂的測試設定檔

根據特定裝置客製化測試參數、攻擊向量和量測設定,以實現重點明確且相關的安全性評估。

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    Standard support

  • Technology

    Device Security

常見問題