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HIGHLIGHTS
- 用於產生緊密模型的整合式 NVNA 主動負載拉移解決方案
- 是量測可展現線性或非線性特性的 2 埠無電晶體的理想選擇
- 輸入與輸出埠可同步對射頻和直流偏壓進行主動信號源控制
- 大信號波形傳遞至 ICcap 以進行 Keysight DynaFET 模型萃取
- 模型包括射頻和直流特性，如記憶效應和負載靈敏度
- 此外，大信號資料可用於產生使用者自己的緊密模型
- 或者，將大信號資料套用於任何現有的緊密模型
S94522B 任意負載控制（ALC）裝置特性分析應用軟體提供功能強大但簡易的自動化程序，可擷取非線性裝置在各種主動條件（任意負載阻抗、輸入功率和直流偏壓等）下的特性。用於是德科技的 DynaFET 緊密模型萃取時，量測裝置的資料必須來自晶圓上 III 到 V 半導體 FET 電晶體、GaN 或 GaAs。由於 CW 射頻激發，晶圓上功率應該限制為 5 瓦特或更低。對一般使用而言，可量測任何 2 埠裝置的大信號波形 。可用於執行 NVNA 的「A」機型 PNA-X 。此應用軟體是無電晶體緊密建模的理想選擇。
ALC 應用軟體具備高度整合且可與 NVNA 軟體互動，提供設定、直流 I/V 選擇、量測及分析功能。應用軟體中的各個標籤可引導您完成整個流程。在儲存最終大信號波形資料檔以萃取至 DynaFET 模型、使用者定義模型，或儲存為目標檔以將任何緊密模型最佳化之前，可基於量測結果先進行調整。它具有出色的靈活性，因此可以整合到從非常簡單到非常複雜的各種使用者系統中。
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