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HIGHLIGHTS
- 在每個諧波上，將振幅和相位資料當作功率、偏移和負載的非線性函數進行量測
- 將 X 參數級聯擴充到任意大的負載失配
- 使用是德科技的先進設計系統（ADS），透過簡單的拖放操作建立元件模型，並設計多級、Doherty 或其他複雜的放大器電路
- 在任意負載條件下（甚至在極大的壓縮條件下），量測並預測輸入埠和輸出埠的動態負載線
業界首見：可利用 X 參數，在全負載下擷取完整的非線性元件特性*。
利用此選項，您可以：
- 使用真實的非線性資料進行設計，將設計週期縮短 50%
- 在每個諧波上，將振幅和相位資料當作功率、偏移和負載的非線性函數進行量測
- 將 X 參數級聯擴充到任意大的負載失配
- 使用是德科技的先進設計系統（ADS），透過簡單的拖放操作建立元件模型，並設計多級、Doherty 或其他複雜的放大器電路
- 在任意負載條件下（甚至在極大的壓縮條件下），量測並預測輸入埠和輸出埠的動態負載線
X 參數量測是功能強大、操作簡單並可自動完成的過程，可擷取非線性元件對任意複雜阻抗、輸入功率、輸入頻率、直流偏移等參數的特性。透過在 NVNA 上安裝 Maury 負載牽引軟體和添加外部 Maury 調諧器，可以在大信號條件下擷取元件完整複雜的非線性特性（Gamma dependence）。X 參數首次在根本上將散射參數、純量和向量負載牽引資料，與元件產生的諧波和而為一。全負載相關還可將 X 參數立即應用於電晶體特性分析、建模和電路設計。
如欲瞭解 Maury 調諧器和負載牽引軟體的更多資訊，請瀏覽 maurymicrowave 網站。
* “X 參數”是是德科技的註冊商標。X 參數格式與底層公式，均對外公開並有文件記錄。更多關於 X 參數的資訊。
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