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產品特性
- 具最高準確度的單次掃瞄。 無需進行多次掃描以求取平均值
- 光學元件的光路徑長度無任何限制
- 具備 1,240 nm 至 1,650 nm 的波長運作範圍
- 1 MHz 最大取樣率
- 0 ps 至 1,000 ps DGD 量測範圍
- 0 ps 至 300 ps PMD 量測範圍
- 1.5° SOP 量測不確定性
- ±2% DOP 量測不確定性
N7788C 光學元件分析儀提供偏振控制和分析功能，讓您能在實驗室中使用一台儀器靈活進行各種量測。 如與可調式雷射光源結合使用，N7788C 可準確量測光學元件如何改變信號的 SOP。 此量測基於標準化瓊斯矩陣特徵分析方法（JME），使用獨特的單次掃描偏振相依方法，來確定參數偏振模色散（PMD）或差動群組延遲（DGD）和偏振相關損耗（PDL）。
N7788C 可搭配使用可調式雷射光源和新的 N7700 軟體引擎，對前述偏振相關損耗與色散進行光譜量測。 LS 引擎是矽光子應用軟體套件的元件，現在支援波長相關 DGD 和 PMD 量測。 您可透過 N7700103C PMD 取得此模式的授權。
它提供下列量測參數：
- DGD/PMD
- PDL
- 功率/損耗
- TE/TM 損耗
- 瓊斯矩陣（Jones matrices）
- 穆勒矩陣（Mueller matrices）
- 二階 PMD（去偏振 + PCD）
Keysight N7788C 內建的操作介面支援一般偏振計和偏振控制功能。
此輕巧型儀器僅 1 U 高，配備 LAN 和 USB 介面。
主要技術規格
應用
Component characterization (fiber; passive; active; dynamic)
In-channel measurements across amplifiers
DOP Meas. Uncertainty
± 2.%; ± 1.5% typical
Functionality
Polarimeter
Input power range
-50 dBm to +7 dBm
Insertion Loss Choice
<6.0 dB at 1270 - 1375 nm
<5.0 dB at 1375 - 1620 nm
PDL
< 0.15 dB typical at 1550 nm
應用
DOP Meas. Uncertainty
Functionality
Input power range
Insertion Loss Choice
PDL
Component characterization (fiber; passive; active; dynamic)
In-channel measurements across amplifiers
± 2.%; ± 1.5% typical
Polarimeter
-50 dBm to +7 dBm
<6.0 dB at 1270 - 1375 nm
<5.0 dB at 1375 - 1620 nm
< 0.15 dB typical at 1550 nm
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應用:
Component characterization (fiber; passive; active; dynamic)
In-channel measurements across amplifiers
DOP Meas. Uncertainty:
± 2.%; ± 1.5% typical
Functionality:
Polarimeter
Input power range:
-50 dBm to +7 dBm
Insertion Loss Choice:
<6.0 dB at 1270 - 1375 nm
<5.0 dB at 1375 - 1620 nm
PDL:
< 0.15 dB typical at 1550 nm
SOP Cycling Time:
< 10 µs
SOP Meas. Uncertainty:
1.5° typical
類型:
Optical Component Analyzer
Wavelength range:
1240 nm to 1650 nm
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