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XP6 級偏振分析儀，附偏振儀

N7788C 將偏振計與偏振控制器結合，可在實驗室中靈活使用，並能透過單次掃描演算法與是德科技可調式雷射，對光學元件和光纖進行快速光譜 DGD/PMD 與 PDL 量測。

產品影像

  • Input power range

    -50 dBm to +7 dBm

  • Wavelength range

    1240 nm to 1650 nm

  • Functionality

    Polarimeter

  • Insertion loss

    5.0 dB

  • State of polarization uncertainty

    1.5°

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準備好取得報價

瞭解包含哪些項目，並探索 Keysight 提供的可用升級選項。

焦點訊息

  • 具備最高精度的單次掃描。無需進行多次掃描以求取平均值。
  • 光學元件的光路徑長度不受任何限制
  • 具備 1,240 奈米至 1,650 奈米的波長運作範圍
  • 1 MHz 最大取樣率
  • 0 ps 至 1,000 ps DGD 量測範圍
  • 0 ps 至 300 ps PMD 量測範圍
  • 1.5° SOP 量測不確定性
  • ±2% DOP 量測不確定性

N7788C 光學元件分析儀提供偏振控制與分析功能，讓您能在實驗室中使用單一儀器靈活執行各類量測。若搭配可調式雷射光源使用，N7788C 可精準量測光學元件如何改變訊號的 SOP。 此量測基於標準化瓊斯矩陣特徵分析方法（JME），採用獨特的單次掃描偏振相依方法，用以確定參數偏振模色散（PMD）或差動群組延遲（DGD）以及偏振相關損耗（PDL）。

N7788C可搭配使用可調式雷射光源和新的 N7700 軟體引擎，對前述偏振相關損耗與色散進行光譜量測。LS 引擎是矽光子應用軟體套件的元件，現在支援波長相關 DGD 和 PMD 量測。您可透過 N7700103C PMD 取得此模式的授權。

它提供下列量測參數：

  • DGD/PMD
  • PDL
  • 功率/損耗
  • TE/TM 損耗
  • 瓊斯矩陣（Jones matrices）
  • 穆勒矩陣（Mueller matrices）
  • 二階 PMD（去偏振 + PCD）

Keysight N7788C 內建的操作介面支援一般偏振計與偏振控制功能。

。此輕巧型儀器僅 1 U 高，配備 LAN 與 USB 介面。

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