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XP6 級偏振分析儀，附偏振計

N7788C 將偏振計和偏振控制器相結合可在實驗室中靈活使用，並可透過單次掃描演算法與是德科技可調式雷射，對光學元件和光纖進行快速光譜 DGD/PMD 和 PDL 量測。

產品影像

  • Input power range

    -50 dBm to +7 dBm

  • Wavelength range

    1240 nm to 1650 nm

  • Functionality

    Polarimeter

  • Insertion loss

    5.0 dB

  • State of polarization uncertainty

    1.5°

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焦點訊息

  • 具最高準確度的單次掃瞄。 無需進行多次掃描以求取平均值
  • 光學元件的光路徑長度無任何限制
  • 具備 1,240 nm 至 1,650 nm 的波長運作範圍
  • 1 MHz 最大取樣率
  • 0 ps 至 1,000 ps DGD 量測範圍
  • 0 ps 至 300 ps PMD 量測範圍
  • 1.5° SOP 量測不確定性
  • ±2% DOP 量測不確定性

N7788C 光學元件分析儀提供偏振控制和分析功能，讓您能在實驗室中使用一台儀器靈活進行各種量測。 如與可調式雷射光源結合使用，N7788C 可準確量測光學元件如何改變訊號的 SOP。 此量測基於標準化瓊斯矩陣特徵分析方法（JME），使用獨特的單次掃描偏振相依方法，來確定參數偏振模色散（PMD）或差動群組延遲（DGD）和偏振相關損耗（PDL）。

N7788C 可搭配使用可調式雷射光源和新的 N7700 軟體引擎，對前述偏振相關損耗與色散進行光譜量測。 LS 引擎是矽光子應用軟體套件的元件，現在支援波長相關 DGD 和 PMD 量測。 您可透過 N7700103C PMD 取得此模式的授權。

It provides the following measurement parameters:

  • DGD/PMD
  • PDL
  • 功率/損耗
  • TE/TM 損耗
  • 瓊斯矩陣（Jones matrices）
  • 穆勒矩陣（Mueller matrices）
  • 二階 PMD（去偏振 + PCD）

Keysight N7788C 內建的操作介面支援一般偏振計和偏振控制功能。

此輕巧型儀器僅 1 U 高，配備 LAN 和 USB 介面。

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