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XP3 級光回損計，70 dB 動態範圍

Keysight N7753C 光學回損量測儀可量測輸入待測裝置和從待測裝置反射的光功率，並計算回損。原廠校準參數、功率監測器和內建逐步指南可簡化使用者校準，並消除暗電流和寄生反向散射的影響，以在寬動態範圍內實現最精確的量測。 N7753C 可與外部單模光纖光源搭配使用，並可與可調式雷射光源的觸發同步，以進行波長相關量測。

產品影像

  • Relative uncertainty (typical)

    ±0.5 dB

  • Sensor type

    InGaAs

  • Wavelength range

    1250 nm to 1640 nm

  • 動態範圍

    70 dB

  • Number of channels

    1

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焦點訊息

回波損耗量測，動態範圍高達 70 dB

N7753C 光學回波損耗計量測進入待測設備並從中反射的光功率，並計算回波損耗。原廠校準參數讓您可以立即開始回波損耗量測。為了在寬廣的動態範圍內提供最準確的量測，功率監測器和內建的逐步指南簡化了精確的使用者校準，並消除了暗電流和寄生反向散射的影響。

快速掃頻波長回波損耗量測

N7753C 與外部單模光纖光源配合使用，並可與可調諧雷射源的觸發同步，以進行波長相關的量測。1M 樣本記錄緩衝區和 1 µs 至 10 s 的寬廣平均時間調整範圍進一步增強了此功能。

從 3.4.1.8 版起，光子應用套件的 Lambda 掃描引擎支援 N7753C，可用於搭配一個或多個掃描式可調諧雷射，進行進階掃描式 RL 和 IL 量測，以涵蓋 1250 nm 至 1640 nm 的波長。

N7753C 包含兩個功率感測器和光纖耦合器，可提供光學回波損耗的直接量測。一個感測器量測從待測設備反射到儀器的光功率，而另一個感測器則監測穿過儀器到達待測設備的光功率。校準後的比率提供回波損耗。

服務與支援