저전류 펄스 측정 방법

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저전류 펄스 IV 테스트

저전류 및 협폭 펄스 측정은 최소한의 노이즈로 극히 작은 전류 응답을 캡처하면서 정밀한 전압 또는 전류 소싱을 필요로 합니다. 테스트 설정은 일반적으로 소스 측정 장치(SMU)를 사용하여 역방향 바이어스 누설 측정 및 펄스 순방향 전류 테스트를 포함한 전류 대 전압(IV) 특성화를 수행합니다. 정확한 측정은 안정화 효과 및 유전 흡수를 줄이기 위한 저노이즈 연결, 최적화된 개구 시간 및 제어된 측정 지연에 따라 달라집니다.

측정 프로세스에는 전압 스윕 또는 펄스 신호 구성, 펨토암페어에서 밀리암페어 범위에 걸친 전류 응답 캡처, 그리고 과도 및 정상 상태 동작 분석이 포함됩니다. 협폭 펄스 테스트는 빠른 전환을 캡처하기 위해 높은 샘플링 속도를 필요로 하며, 스텝 응답 측정은 안정화 시간 및 슬루율 성능을 검증합니다. 이러한 방법은 DC 및 과도 조건 모두에서 반도체 및 광학 장치의 특성화를 가능하게 합니다.

저전류 펄스 측정 솔루션

저전류 펄스 측정은 넓은 동적 범위에 걸쳐 정밀한 소싱과 정확한 전류 감지를 필요로 하며, 동시에 낮은 노이즈와 빠른 과도 응답을 유지해야 합니다. 이 솔루션은 PXI Express (PXIe) 정밀 소스 측정 장치(SMU)를 사용하여 DC 및 펄스 IV 특성화를 모두 수행합니다. 펨토암페어 수준 전류에서 수백 밀리암페어까지의 측정을 지원하며, 마이크로초 범위까지의 협폭 펄스 생성을 가능하게 합니다. 이 시스템은 고해상도 측정 기능, 초당 메가 샘플까지의 빠른 샘플링 속도, 그리고 과도 응답을 캡처하기 위한 디지털화 기능을 통합합니다. 역방향 바이어스 누설 테스트, 펄스 순방향 전류 측정 및 스텝 응답 분석을 지원합니다. 구성 가능한 스윕 파라미터, 트리거 제어 및 데이터 내보내기 기능을 통해 이 솔루션은 실험실 및 생산 환경 모두에서 반복 가능하고 자동화된 반도체 장치 특성화를 가능하게 합니다.
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