Come eseguire misurazioni di impulsi a bassa corrente
Prove IV con impulsi a bassa corrente
La misurazione di correnti basse e impulsi di breve durata richiede la generazione di tensioni o correnti precise, acquisendo al contempo risposte di corrente estremamente ridotte con un rumore minimo. La configurazione di prova utilizza in genere un’unità di misura e generazione (SMU) per eseguire la caratterizzazione corrente-tensione (IV), comprese le misurazioni della dispersione in polarizzazione inversa e le prove di corrente diretta a impulsi. L’accuratezza delle misurazioni dipende da connessioni a basso rumore, da un tempo di apertura ottimizzato e da ritardi di misurazione controllati, al fine di ridurre gli effetti di assestamento e l’assorbimento dielettrico.
Il processo di misurazione prevede la configurazione di scansioni di tensione o segnali a impulsi, l'acquisizione delle risposte di corrente in intervalli compresi tra i femtoampere e i milliampere e l'analisi del comportamento transitorio e in regime stazionario. I test con impulsi stretti richiedono elevate frequenze di campionamento per acquisire transizioni rapide, mentre le misurazioni della risposta a gradino verificano il tempo di assestamento e le prestazioni relative alla velocità di variazione. Questi metodi consentono la caratterizzazione dei dispositivi a semiconduttori e ottici sia in condizioni di corrente continua che transitorie.
Soluzione per la misurazione di impulsi a bassa corrente
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Apparecchio di prova N1295A
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M9601A Unità di misura e generazione di precisione PXIe, 10 fA
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