바운더리 스캔을 활용한 ICT 커버리지 향상 방법

견적 받기

애플리케이션 노트 보기

+ Expert 병렬 테스트 시스템

PCB 테스트 커버리지 확장

인서킷 테스트(ICT)는 인쇄 회로 기판(PCB)의 물리적 테스트 포인트를 프로빙하여 단락 및 개방과 같은 전기적 결함을 식별합니다. IEEE 1149.x 표준을 기반으로 하는 경계 스캔 테스트는 물리적 프로브 없이 디지털 상호 연결 및 집적 회로의 내부 노드에 대한 액세스를 가능하게 합니다. 이러한 방법을 결합하면 테스트 엔지니어가 복잡한 PCB 설계 내에서 접근 가능한 노드와 접근 불가능한 노드를 모두 검증할 수 있습니다.

통합 테스트 프로세스는 통합 시스템 내에서 ICT 및 경계 스캔 실행을 조정할 수 있는 제조 환경을 필요로 합니다. 이 설정은 동기화된 실행, 안정적인 신호 무결성 및 복잡한 PCB 어셈블리 전반에 걸쳐 일관된 결함 커버리지를 보장하기 위해 ICT 시스템, 경계 스캔 계측, 자동 시퀀싱 소프트웨어 및 테스트 대상 장치 간의 통합을 필요로 합니다.

통합 경계 스캔 ICT 솔루션

제조 테스트 작업에 경계 스캔 테스트를 통합하려면 PCB 어셈블리 전반에 걸쳐 결함 감지 커버리지를 개선하기 위해 인서킷 테스트 시스템, 경계 스캔 분석기 및 자동화된 테스트 소프트웨어를 조정해야 합니다. 키사이트 i7090 인라인 인서킷 테스트 시스템은 x1149 경계 스캔 분석기, DLL(Dynamic Link Library) 연결 및 OpenTAP(Open Test Automation Platform) 소프트웨어를 통합하여 통합 제조 테스트 환경 내에서 경계 스캔 루틴 및 전기적 결함 검증을 실행합니다.

이 시스템은 테스트 컨트롤러가 경계 스캔 실행을 시작하고 경계 스캔 분석기와 테스트 대상 장치 간의 통신을 조정할 수 있도록 합니다. 이를 통해 경계 스캔 루틴이 동기화된 제조 테스트 프로세스 내에서 인서킷 테스트와 함께 실행됩니다. 자동화된 테스트 시퀀싱, 디지털 상호 연결 검증 및 인시스템 프로그래밍 기능을 통합함으로써 이 솔루션은 복잡한 PCB 어셈블리에 대한 결함 커버리지, 진단 해상도, 반복성 및 제조 테스트 효율성을 향상시킵니다.

견적 받기