바운더리 스캔을 활용한 ICT 커버리지 향상 방법

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+ 전문 병렬 테스트 시스템

PCB 테스트 범위 확대

회로 내 테스트(ICT)는 인쇄 회로 기판(PCB)의 물리적 테스트 지점을 프로빙하여 단락이나 개방과 같은 전기적 결함을 식별합니다. IEEE 1149.x 표준을 기반으로 하는 경계 스캔 테스트는 물리적 프로브 없이도 집적 회로의 디지털 상호 연결 및 내부 노드에 접근할 수 있게 해줍니다. 이러한 방법을 결합함으로써 테스트 엔지니어는 복잡한 PCB 설계 내에서 접근 가능한 노드와 접근 불가능한 노드 모두를 검증할 수 있습니다.

통합 테스트 프로세스를 수행하려면 통합된 시스템 내에서 ICT 및 바운더리 스캔 실행을 조율할 수 있는 제조 환경이 필요합니다. 이러한 환경을 구축하려면 ICT 시스템, 바운더리 스캔 계측 장비, 자동 시퀀싱 소프트웨어 및 피시험 장치(DUT) 간의 통합이 이루어져야 하며, 이를 통해 복잡한 PCB 어셈블리 전반에 걸쳐 동기화된 실행, 안정적인 신호 무결성 및 일관된 결함 탐지 범위를 보장할 수 있습니다.

통합 경계 스캔 ICT 솔루션

경계 스캔 테스트를 제조 테스트 공정에 통합하려면, PCB 어셈블리 전반에 걸친 결함 탐지 범위를 개선하기 위해 인서킷 테스트 시스템, 경계 스캔 분석기 및 자동화 테스트 소프트웨어를 연동해야 합니다. 키사이트(Keysight) i7090 인라인 인서킷 테스트 시스템은 x1149 경계 스캔 분석기, DLL(Dynamic Link Library) 연결 기능, OpenTAP(Open Test Automation Platform) 소프트웨어를 통합하여, 통합된 제조 테스트 환경 내에서 경계 스캔 루틴을 실행하고 전기적 결함을 검증합니다.

이 시스템을 통해 테스트 컨트롤러는 바운더리 스캔 실행을 시작하고, 바운더리 스캔 분석기와 피시험 장치 간의 통신을 조정할 수 있습니다. 이를 통해 동기화된 제조 테스트 공정 내에서 바운더리 스캔 루틴이 회로 내 테스트와 함께 실행되도록 보장합니다. 자동화된 테스트 시퀀싱, 디지털 상호 연결 검증 및 시스템 내 프로그래밍 기능을 통합함으로써, 이 솔루션은 복잡한 PCB 어셈블리에 대한 결함 탐지 범위, 진단 정확도, 재현성 및 제조 테스트 효율성을 향상시킵니다.

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