FRAを用いたフィルタおよび増幅器の応答特性の検証方法

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ゲインと位相の特性を評価

周波数応答解析 (FRA) を用いてフィルタおよびアンプの応答を検証するには、スイープ正弦波刺激を印加し、入力と出力の両方を測定し、周波数全体でゲインと位相を計算する手段が必要です。テストセットアップには、内蔵ソースまたは外部刺激機能、2つの測定パス、および測定応答からボード線図を生成できるソフトウェアを備えたオシロスコープが必要です。

測定を効率的に完了するには、エンジニアはスイープ範囲全体で回路応答を捕捉し、入力と出力の振幅を比較し、パスバンド、カットオフ領域、およびそれ以降の位相シフトを追跡する必要があります。これにより、測定されたゲインと位相の特性が、テスト対象のフィルタまたはアンプの期待される応答と一致するかどうかを簡単に確認できます。

フィルタおよび増幅器向けFRAソリューション

フィルタおよびアンプでFRAを実行するには、スイープ刺激で回路を駆動し、スイープ範囲全体で入力と出力の応答を比較できるベンチセットアップが必要です。内蔵波形生成、周波数応答解析機能、および互換性のあるパッシブプローブを備えたEssential ベンチトップ オシロスコープは、両方の信号を捕捉し、ボード線図を生成するために必要な測定パスを提供します。このセットアップにより、エンジニアは単一のベンチセットアップでパスバンド特性、カットオフ応答、ゲイン変動、および位相シフトを確認できます。
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