アナログフィルタの周波数応答を測定する方法

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周波数帯域にわたるフィルターの性能を評価する

アナログフィルタの周波数特性測定では、測定帯域全体で信号源の振幅、出力インピーダンス、または接続損失が変化すると、測定結果が歪む可能性があります。これらの影響をフィルタの実際の挙動から分離するには、安定した正弦波発生器、フィルタ入力端子での基準測定、および必要な周波数範囲にわたって入出力振幅を測定できるオシロスコープまたはアナライザが必要です。

この試験では、印加レベルをフィルタの線形動作範囲内に保ちながら、正弦波刺激を通過帯域、遷移帯域、および阻止帯域にわたって段階的に変化させます。各周波数において、測定システムは出力振幅を入力基準値と比較し、ゲインを算出します。ゲインを周波数に対してプロットすることで、通過帯域の平坦度、カットオフ周波数、ロールオフ、および阻止帯域の減衰量が明らかになります。また、必要に応じて、入力から出力までのタイミングから位相を導き出すことができます。

アナログフィルタの周波数特性に関するソリューション

フィルタの通過帯域、遷移帯域、および阻止帯域にわたって正弦波刺激を掃引しながら、各周波数における入力および出力の振幅を測定することで、試験を実施します。キーサイトの「Expert」シリーズベンチトップ波形・関数発生器が制御された刺激を供給し、オシロスコープまたはアナライザがフィルタの周波数特性を捕捉します。その周波数掃引機能により、試験帯域全体にわたって再現性のある刺激を供給することが可能です。 出力振幅を入力基準値と比較することで、ゲイン対周波数特性曲線が得られ、通過帯域の平坦度、カットオフ周波数、ロールオフ勾配、および阻止帯域の減衰を評価できます。リモート接続機能により、自動周波数ステップおよび再現性のある試験実行が可能になります。
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「アナログフィルタの周波数応答」ソリューションのブロック図を参照してください

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