アナログ信号発生器
+ アナログ信号発生器

局発置換テスト

局発(LO)置換には、安定した高周波ソース、明確な発振器またはクロック注入ポイント、および出力測定パスが必要です。アナログ信号発生器がオンボードの局発またはクロッキングサブシステムを置き換えることで、制御された外部ソースを使用して受信機、ミキサ、コンバータ、またはシグナルチェーンを評価できます。

このテストでは、外部ソースを必要な周波数と出力レベルに設定し、元の発振器パスをバイパスまたは切断した状態でシステムの挙動を観測します。エンジニアは、制御された局発条件下で、変換応答、スプリアス挙動、位相雑音感度、ロック挙動、およびシグナルチェーンの安定性を比較できます。

RF発振器の代替ソリューション

局発置換には、設計デバッグ中にオンボードの発振器またはクロックサブシステムを置き換えることができる、制御されたRFソースが必要です。このソリューションでは、コンパクトなアナログ信号生成を使用して、安定した高純度の信号を局発またはクロックパスに注入し、エンジニアが下流システムの挙動を観測します。キーサイトのアナログ信号発生器は、LO/クロック置換、広い出力パワーレンジ、低位相雑音、高速な周波数および振幅切り替え、低スプリアス信号性能に適しています。これらの特性により、最終的な発振器またはクロック設計が固定される前に、制御されたRFシステムのデバッグをサポートします。

RF発振器置換ソリューションのブロック図を見る

RF局部発振器の代替方法 ブロック図

RF発振器置換ソリューション向け製品を探索する

リソースのご紹介

RF発振器置換に関する追加リソース

関連するユースケース

お問い合わせ ロゴ

当社のエキスパートにお問い合わせください。

所望のソリューションを見つけるのにお困りですか?