アナログ信号発生器
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局部発振器の置換試験

局部発振器(LO)の置換には、安定した無線周波数源、定義済みの発振器またはクロックの注入点、および出力測定経路が必要です。アナログ信号発生器は、オンボードの局部発振器またはクロックサブシステムに取って代わるため、制御された外部信号源を用いて、受信機、ミキサー、コンバータ、または信号チェーンを評価することができます。

この試験では、外部信号源を所定の周波数および出力レベルに設定し、元の発振器経路をバイパスまたは切断した状態でシステムの挙動を観察します。これにより、エンジニアは、制御された局部発振器条件下において、変換応答、スプリアス挙動、位相ノイズ感度、ロック挙動、および信号経路の安定性を比較することができます。

RF発振器の代替ソリューション

局部発振器の置換には、設計のデバッグ中にオンボードの発振器やクロックサブシステムを置き換えることができる、制御可能なRF信号源が必要です。このソリューションでは、コンパクトなアナログ信号発生器を使用して、エンジニアが下流のシステムの挙動を観察している間に、安定した高純度の信号を局部発振器またはクロック経路に注入します。 キーサイトのアナログ信号発生器は、LO/クロックの置換に適しており、広い出力電力範囲、低位相ノイズ、高速な周波数および振幅切り替え、低スプリアス信号性能を備えています。これらの特性により、最終的な発振器やクロックの設計が確定する前の段階で、制御されたRFシステムのデバッグが可能になります。

RF発振器の代替ソリューションのブロック図を参照してください

RF局部発振器の代替方法 ブロック図

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